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NTIS 바로가기韓國舶用機關學會誌 = Journal of the Korean Society of Marine Engineers, v.22 no.5, 1998년, pp.687 - 692
Test pattern generation is one of most difficult problems encountered in automating the design of logic circuits. The goal is to obtain the highest fault coverage with the minimum number of test patterns for a given circuit and fault set. although there have been many deterministic algorithms and he...
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