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NTIS 바로가기한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.15 no.3 = no.84, 1998년, pp.99 - 106
정회원 (한국과학기술원 기계공학과 대학원) , 심종엽 (한국과학기술원 기계공학과 대학) , 권대갑 (한국과학기술원 기계공학과)
Recently, scientists introduced a new type of microscope capable of investigating nonconducting surfaces in an atomic scale, which is called AFM (Atomic Force Microscope). It was an innovative attempt to overcome the limitation of STM (Scanning Tunnelling Microscope) which has been able to obtain th...
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