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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics S. S, v.35S no.10, 1998년, pp.77 - 84
김재용 (湖西大學校 電氣電子制御工學部) , 조수영 (湖西大學校 情報通信工學部) , 강태삼 (湖西大學校 電氣電子制御工學部) , 이호준 (湖西大學校 情報通信工學部) , 고광일 ((株)未來産業 硏究所)
The temperature difference occurs at the test points of chamber, because the traditional Test Handler consists of a heater and a fan. To reduce the temperature variation at different points in the chamber, we divided the heater to three parts which are controlled independently. First, we identified ...
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