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NTIS 바로가기전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.12 no.1, 1999년, pp.81 - 87
The surface morphology of liquid crystal alignment layer has been investigated by using Brewster angle microscope(BAM) for the first time. The samples used in this work for liquid crystal alignment layer were mechanically rubbed polyimide films. The rubbing pattern on this layer has been analyzed wi...
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