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NTIS 바로가기한국OA학회논문지 = Journal of The Korean Institute of Office Automation, v.4 no.1, 1999년, pp.28 - 37
이창희 (계명문화대학 사무자동학과) , 장영식 (계명문화대학 전산정보처리과)
In this paper. we developed a delay test architecture and test procedure for clocked 5-bit asynchronous counter circuit based on boundary scan architecture. To develope, we analyze the problems of conventional method on delay test for clocked sequential circuit in boundary scan architecture. This pa...
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