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마이크로 열 센서용 측온저항체 온도센서의 제작 및 특성
The Fabrication and Characteristics of RTD(Resistance Thermometer Device) for Micro Thermal Sensors 원문보기

센서학회지 = Journal of the Korean Sensors Society, v.9 no.3, 2000년, pp.171 - 176  

정귀상 (동서대학교 정보통신공학부) ,  홍석우 (삼성종합기술원 마이크로시스템팀)

초록
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반응성 스퍼터링과 고주파 마그네트론 스퍼터링으로 각각 증착된 MgO 박막과 그 위에 증착된 백금박막의 열처리 온도 및 시간에 따른 물리적, 전기적 특성을 4침 탐침기, 주사전자현미경 및 X선 회절법을 이용하여 분석하였다. $1000^{\circ}C$, 2시간의 열처리 조건하에서 MgO 박막은 백금박막과 화학적 반응없이 백금박막의 열산화막에 대한 부착특성을 개선시켰으며, 그 위에 증착된 백금박막의 면저항 및 비저항은 각각 $0.1288\;{\Omega}/{\square}$, $12.88\;{\mu}{\Omega}{\cdot}cm$이었다. Lift-off 방법을 이용하여 $SiO_2$/Si기판상에 백금 저항체를 만들었으며, 백금 와이어, 백금 페이스트 그리고 SOG를 이용하여 마이크로 열 센서용 박막형 Pt-RTD를 제작하였다. $25{\sim}400^{\circ}C$의 온도범위에서 $1.0{\mu}m$의 두께를 갖는 제작된 Pt-RTD의 저항온도계수는 벌크 백금에 가까운 $3927ppm/^{\circ}C$로 측정되었다. 측정온도범위내에서 저항값은 선형적인 변화를 보였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The physical and electrical characteristics of MgO and Pt thin-films on it, deposited by reactive sputtering and rf magnetron sputtering, respectively, were analyzed with annealing temperature and time by four-point probe, SEM and XRD. Under annealing conditions of $1000^{\circ}C$ and 2 h...

AI 본문요약
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제안 방법

  • 백금 박막에 미치는 영향은 quartz tube furnace를 이용하여 N2 분위기에서 열처리를 거친 후, four-point probe, o-step, SEM 및 XRD를 각각 이용하여 분석하였다. Si기판상에 MgO 박막을 매개층으로 이용한 박막형 Pt-RTD 는 photolithography 공정과 lift-off 방법으로 제작하여 N2 분위기에서 1000℃, 2시간 열처리를 거친 후, 그 특성을 분석 · 평가하였다. 표 1은 MgO와 백금박막의 증착 및 열처리 조건을 각각 나타낸 것이다.
  • 물리적 특성을 four-point probe, Q-step, SEM 및 XRD로 각각 분석하였다. 그리고, 박막형 Pt-RTD를 Si기판과 알루미나 기판상에 각각 제작한 후, 온도에 따른 TCR값과 저항 변화율을 측정하여 비교 . 평가하였다.
  • 반응성 rf 스퍼터링법으로 매개층 MgO 박막과 rf 스퍼터링법으로 백금박막을 각각 순차적으로 증착했으며, 열처리에 따른 백금박막의 전기적 . 물리적 특성을 four-point probe, Q-step, SEM 및 XRD로 각각 분석하였다. 그리고, 박막형 Pt-RTD를 Si기판과 알루미나 기판상에 각각 제작한 후, 온도에 따른 TCR값과 저항 변화율을 측정하여 비교 .
  • 열적 안정성이 높으며 응답 특성이 양호한 백금을 감지물질로 사용하여 가격이 저렴한 박막형 Pt-RTD를 제작하여, 그 특성을 분석하였다. 반응성 rf 스퍼터링법으로 매개층 MgO 박막과 rf 스퍼터링법으로 백금박막을 각각 순차적으로 증착했으며, 열처리에 따른 백금박막의 전기적 . 물리적 특성을 four-point probe, Q-step, SEM 및 XRD로 각각 분석하였다.
  • (6)증착된 MgO 박막의 열처리 특성과. 백금 박막에 미치는 영향은 quartz tube furnace를 이용하여 N2 분위기에서 열처리를 거친 후, four-point probe, o-step, SEM 및 XRD를 각각 이용하여 분석하였다. Si기판상에 MgO 박막을 매개층으로 이용한 박막형 Pt-RTD 는 photolithography 공정과 lift-off 방법으로 제작하여 N2 분위기에서 1000℃, 2시간 열처리를 거친 후, 그 특성을 분석 · 평가하였다.
  • 본 연구에서는 마그네트론 스퍼터링법으로 순차적으로 증착된 매개층 MgO와 백금박막의 열처리 조건에 따른 전기적, 물리적 특성을 분석하였으며, 매개 층으로 이온성 산화물인 MgO 박막을 이용하여 Si기판과 알루미나 기판상에 각각 박막형 PHRTD를 제작하여 특성을 비교 . 평가하였다.
  • 또한, 화학적 . 열적 안정성이 높으며 응답 특성이 양호한 백금을 감지물질로 사용하여 가격이 저렴한 박막형 Pt-RTD를 제작하여, 그 특성을 분석하였다. 반응성 rf 스퍼터링법으로 매개층 MgO 박막과 rf 스퍼터링법으로 백금박막을 각각 순차적으로 증착했으며, 열처리에 따른 백금박막의 전기적 .
  • 증착시 SiO?와 백금박막과의 부착특성을 개선시키기 위해 MgO 타겟을 이용한 반응성 rf 스퍼터링 법으로 기판과 타겟의 거리를 7 cm 이상을 유지하여 MgO 박막을 1000A 증착시켜 매개층으로 이용하였다. 그리고 w 센서물질인 백금은 rf 스퍼터링법으로 1.
  • 나타낸 것이다. 저항변화율은 질소 분위기인 furnace에서 상온에서부터 400℃ 까지의 온도 범위에서 측정하였다. 샘플 1과 2는 Si기판과 알루미나 기판상에 각각 제작한 박막형 Pt-RTD 5개를 각각 10회 측정하여 얻은 평균값이다.
  • Pt-RTD의 표면사진이다. 제작된 박막형 Pt-RTD는 박막의 13.0 µ · Qcm 비저항값을 고려하여 10QQ 기준으로 저항을 설계했다. 선폭은 30 ㎛이며 제작된 센서의 전체 크기는 2.
  • 5X4 mm이다. 제작된 박막형 Pt-RTD의 특성을 분석하기 위해 Pt-paste를 사용하여 Pt-wire를 bonding하여 배선했으며, 대류에 의한 영향을 최소화하기 위해 분위기 가스와 진공도의 제어가 가능한 밀폐시스템 내에서 분석하였다.

대상 데이터

  • 그림 1. Si기판상에 제작된 박막형 Pt-RTD의 표면사진.
  • 본 연구에서는 비저항이 약 4~5Qan, 두께 530 ㎛의 p(100)으로 반도체공정의 기본세척공정을 거치고 자연 산화막을 제거시킨 후, 열산화막을 3000A 성장시킨 Si 기판과 KYOTO SERAMIC사에서 제작한 알루미나기판 (조도분석 : 2 °)을 각각 사용하였다. Si기판상에 백금 박막 증착시 SiO?와 백금박막과의 부착특성을 개선시키기 위해 MgO 타겟을 이용한 반응성 rf 스퍼터링 법으로 기판과 타겟의 거리를 7 cm 이상을 유지하여 MgO 박막을 1000A 증착시켜 매개층으로 이용하였다.
  • 본 연구에서는 집적화가 용이한 Si기판상에 고온 열처리 시 백금박막과의 반응을 피할 수 있으며 절연 특성이 우수하고, 부착특성을 향상시킬 뿐만 아니라 내열성이 우수한 이온성 산화물질인 MgO 박막을 매개 층으로 사용하였다. 또한, 화학적 .
  • 0 µ · Qcm 비저항값을 고려하여 10QQ 기준으로 저항을 설계했다. 선폭은 30 ㎛이며 제작된 센서의 전체 크기는 2.5X4 mm이다. 제작된 박막형 Pt-RTD의 특성을 분석하기 위해 Pt-paste를 사용하여 Pt-wire를 bonding하여 배선했으며, 대류에 의한 영향을 최소화하기 위해 분위기 가스와 진공도의 제어가 가능한 밀폐시스템 내에서 분석하였다.
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