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NTIS 바로가기비파괴검사학회지 = Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing, v.21 no.6, 2001년, pp.618 - 629
양석준 (대우전자㈜ 품질신뢰성 연구소) , 김진우 (대우전자㈜ 품질신뢰성 연구소) , 신승우 (대우전자㈜ 품질신뢰성 연구소) , 이희진 (대우전자㈜ 품질신뢰성 연구소) , 신승훈 (대우전자㈜ 품질신뢰성 연구소) , 유동수 (대우전자㈜ 품질신뢰성 연구소) , 장석원 (대우전자㈜ 품질신뢰성 연구소)
This paper presents a result of failure analysis and reliability evaluation for high voltage ceramic capacitors. The failure modes and failure mechanisms were studied in two ways in order to estimate component life and failure rate. The causes of failure mechanisms for zero resistance phenomena unde...
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