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적응광학시스템의 고속 파면측정 알고리즘에 대한 연구
A study on a fast measuring algorithm of wavefront for an adaptive optics system 원문보기

한국광학회지 = Korean journal of optics and photonics, v.13 no.3, 2002년, pp.251 - 257  

박승규 (한국원자력연구소 양자광학기술개발팀) ,  백성훈 (한국원자력연구소 양자광학기술개발팀) ,  서영석 (한국원자력연구소 양자광학기술개발팀) ,  김철중 (한국원자력연구소 양자광학기술개발팀) ,  박준식 (충남대학교 전자공학과, 통신공학연구실) ,  나성웅 (충남대학교 전자공학과, 통신공학연구실)

초록
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고속 정밀 파면측정 기술은 적응광학 시스템의 성능향상에 중요한 요소이다. 본 논문에서는 적응광학시스템의 하트만 센서로부터 파면정보를 고속으로 측정할 수 있는 알고리즘을 제안하였다. 또한 변형거울 및 기울기거울을 외부유입 노이즈에 강하게 제어하기 위하여 차분 신호를 구성하는 전기적인 제어 장치들을 개발하였다. 무게중심법에 기초한 파면측정 기술은 하트만 센서를 이용한 파면측정 알고리즘으로 가장 널리 사용 되어오고 있으며 좋은 측정결과를 제공해오고 있다. 본 논문에서는 하트만 센서를 이용한 점 영상에서 실제 각 점의 무게 중심위치를 예측하는 예측 가중치가 결합된 무게중심 법을 제안하였다. 제안된 고속 파면측정 알고리즘은 실험을 통해 고속의 정밀한 측정 결과를 제공함을 확인하였고 결과를 비교 분석하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The measuring resolution and speed for wavefronts are important to improve the performance of an adaptive optics system. In this paper, we propose a fast measuring algorithm with high resolution in the Shack-Hartmann wavefront sensor for an adaptive optics system. We designed ground isolated electri...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 광의 파면 왜곡 측정 및 보정을 경제적이면서도 고속 정밀 보정을 수행하기 위하여 일반적으로 널리 사용되는 IBM PC의 윈도우즈 환경에서 하트만 센싱 파면측정 장치와 파면 보정 장치인 기울기거울 및 변형거울을 사용하여 적응 광학 시스템을 구성하였다. 또한 외부 유입 노이즈에 강하게 변형거울 및 기울기 거울을 제어하기 위하여 그라운드 절연된 데이터 신호 생성 드라이브를 구성하였다.
  • 추출하는데 가장 중요한 신호처리 과정이다. 논문에서는 파면왜곡 정보를 서브픽셀 분해능으로 정밀하면서도 고속으로 추출하기 위한 알고리즘을 구성하였다.
  • 본 논문에서는 하트만 센서를 이용한 적응광학시스템에서 고속의 파면측정알고리즘을 제안하였고, 제안된 방법은 기존의 방법과 비교하여 동일한 정밀도로 더욱 고속의 파면 측정이 가능함을 실험으로 확인하였다. 또한 본 논문에서는 광의 파면 왜곡 측정 및 보정을 경제적이면서도 고속 정밀 보정을 수행하기 위하여 일반적으로 널리 사용되는 IBM PC의 윈도우즈 환경에서 하트만 센싱 파면측정 장치와 파면 보정 장치인 기울기 거울 및 변형거울을 사용하여 적응광학시스템을 구성하였다.
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