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Au/Cu, Au/Ag 합금 나노 미립자의 합성과 광학적 성질
Synthesis and Optical Property of Au/Cu, Au/Ag Alloy Nanocluster 원문보기

대한화학회지 = Journal of the Korean Chemical Society, v.47 no.4, 2003년, pp.315 - 324  

나혜진 (성균관대학교 기초과학연구소) ,  이경철 (성균관대학교 기초과학연구소) ,  유은아 (성신대학교 화학화) ,  정강섭 (한국지질자원연구소)

초록
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유기용매인 클로로포름 매질에서 소수성의 합금 나노 미립자를 만드는 새로운 방법에 대해 연구하였다. 소수성 합금 나노 미립자들은 계면활성제(sodium bis(2-ethyl hexyl)-sulfosuccinate, NaAOT)를 포함한 클로로포름 용액에 금속염 즉, $HAuCl_4,\AgNO_3,\Cu(NO_3)_2$을 사용하여 합금의 조성을 조절하여 혼합한 후 sodium borohydride $(NaBH_4)$로 환원시켜 합성하였다. Au/Ag, Au/Cu 합금 나노 미립자의 조성은 1:3, 1:1, 3:1의 몰비로 변화시키면서 합성하였다. UV/Visible, TEM, XPS를 사용하여 합금 나노 미립자의 특성을 측정하였다. Au/Cu 합금 나노 미립자의 표면 공명 흡수는 순수한 금인 경우의 최대흡수 파장인 520 nm에서 순수한 구리의 표면 공명 흡수인 570 nm까지 선형적으로 변하였고, Au/Ag 합금 나노 미립자는 순수한 은의 최대흡수 파장인 405 nm에서 순수한 금의 경우인 520 nm까지 선형적으로 변하였다. 합금 나노 미립자의 Au4f, Ag3d, Cu2p 전자의 구속 에너지는 합금의 조성 비율에 따라 달라지게 된다. 합성된 합금 나노 미립자들은 매우 균일하고 장시간 안정한 분산상태를 유지하였다. 이러한 결과로부터 본 연구에서 사용한 방법은 소수성의 합금 나노 미립자를 합성하는데 매우 효과적인 방법이라고 사료된다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, a new method is presented to produce stable hydrophobic metal alloy nanocluster in chloroform solution including surfactant NaAOT(sodium bis(2-ethylhexyl)-sulfosuccinate) via the chemical reduction of metal salt $(HAuCl_4,\AgNO_3,\Cu(NO_3)_2)$ by sodium borohydride. For the...

주제어

AI 본문요약
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제안 방법

  • 합금 나노 미립자 표면에 존재하는 계면활성제와 공기 중에서 흡착된 불순물을 제거하기 위하여 아르곤이온으로 5분간 표면을 깍아낸 후에 측정하였다. XPS를 측정하기 위하여 용매 인 클로로포름을 증발시켜 나노 미립자가 충분히 응집된 상태에서 XPS 시편 고정장치에 시료를 장착하여 측정하였다. 전자의 구속 에너지는 C1s 284.
  • 미립자의 크기와 모양을 관찰하기 위하여 JEOL사의 JEM-2000FXII Transmission Electron Microscop电사용하였다. 그리고 VG Scientific사의 ESCALAB 220i X-Ray Photoelectron Spectrometer를 사용하여 합금의 형성 여부와 조성을 확인하였다.
  • 이때 금속염의 전체농도는 7X10-4 M이 되도록 일정하게 유지하였다. 단일 금속 Au, Ag 및 Cu 그리고 Au와 Cu의 몰비율을 3:1, 1:1, 1:3으로 변화시켜 AOT를 포함한 클로로포름 용액에 금속염이 용해된 에탄올 용액을 분산시켰다. 환원제인 NaBH를 에탄올에 용해시켜 클로로포름 용액 10 ml당 0.
  • 합성된 합금 나노미립자의 크기와 모양을 TEM으로 측정하였고, XPS를 이용하여 합금 나노 미립자의 전하 재분포를 측정하여 합금의 생성 여부를 확인하고 합금의 조성도 계산하였다. 또한, 자외선 가시광선 분광기를 이용하여 합금 나노미립자의 조성에 따른표면 공명 흡수현상을측정하였다.
  • 합성된 합금 나노 미립자의 표면 플라즈몬 흡수를 측정하기 위하여 Hewlett Packard사의 HP 8453 UV-Visible Spectrometer 사용하였고. 미립자의 크기와 모양을 관찰하기 위하여 JEOL사의 JEM-2000FXII Transmission Electron Microscop电사용하였다. 그리고 VG Scientific사의 ESCALAB 220i X-Ray Photoelectron Spectrometer를 사용하여 합금의 형성 여부와 조성을 확인하였다.
  • 본 연구에서는 다양한 조성을 갖는 금, 은, 구리의 이 성분 합금 나노 미립자를 분산제가 포함된 극성 유기용매에서 환원제를 가하여 합성하였다. 합성된 합금 나노미립자의 크기와 모양을 TEM으로 측정하였고, XPS를 이용하여 합금 나노 미립자의 전하 재분포를 측정하여 합금의 생성 여부를 확인하고 합금의 조성도 계산하였다.
  • Fan 등25은 분산제로 CTAB(hexadecyl trimethyl ammonium bromide厝 이용하여 클로로포름 용액에서 금의 나노 미립자를 합성하였다. 본 연구에서도 CTAB를 사용하여 합금 나노 미립자의 합성을 시도하였으나 합금의 생성여부를 관찰할 수 없어 계면활성제를 극성, 비극성 물질과 강한 상호작용을 하는 음이온 계면 활성제로 알려져 있는 NaAOT(sodium bis(2-ethylhexyl)-sulfosuccinate)로 바꾸어 실험하였다.
  • 합성된 Au(AOT)3를 HAuCh대신에 사용한다. 이 합성된 Au(AOT)3와 AgNO3를 Au/Cu의 합금 합성법과 동일한 방법을 사용하여 Au/Ag 합금 나노 미립자를 합성하고 이때 조성비는 Au/Cu와 동일하게 3:1, 1:1, 1:3의 몰비로 합금 나노 미립자를 합성하였다.
  • 합금의 광 유전상수 값의 변화는 여러 인자에 기인하며, Au/Cu 합금의 경우에는 전하 이동에 의해 유전상수 값이 변화되는 것으로 알려져 있다. 이러한 전하 이동 현상에 의 해 금 원자나 구리 원자의 내부 전자 이온화 에너지가 변화되므로 XPS를 이용하여 합금 원소들의 내부 전자 이온화 에너지 이동을 측정하였다.
  • 탄소막이 입혀진 copper grid(직경 이 3 mm 정도의 원판)를 금속 나노 미립자가 분산된 클로로포름 용액에 담구어서 자기-조합 흡착이 일어나도록 한 후 공기 중에서 용매인 클로로포름을 완전히 증발시킨 후 측정하였다. 전자빔의 최대 가속전압은 30 kV이 었고, 가속전자빔에 의한 시편 고정장치의 가열 현상을 막기 위하여 액체 질소온도에서 측정하였다.
  • TEM 측정시 필요한 시편의 준비는 다음과 같다. 탄소막이 입혀진 copper grid(직경 이 3 mm 정도의 원판)를 금속 나노 미립자가 분산된 클로로포름 용액에 담구어서 자기-조합 흡착이 일어나도록 한 후 공기 중에서 용매인 클로로포름을 완전히 증발시킨 후 측정하였다. 전자빔의 최대 가속전압은 30 kV이 었고, 가속전자빔에 의한 시편 고정장치의 가열 현상을 막기 위하여 액체 질소온도에서 측정하였다.
  • 6 eV를 사용하였다. 합금 나노 미립자 표면에 존재하는 계면활성제와 공기 중에서 흡착된 불순물을 제거하기 위하여 아르곤이온으로 5분간 표면을 깍아낸 후에 측정하였다. XPS를 측정하기 위하여 용매 인 클로로포름을 증발시켜 나노 미립자가 충분히 응집된 상태에서 XPS 시편 고정장치에 시료를 장착하여 측정하였다.
  • 본 연구에서는 다양한 조성을 갖는 금, 은, 구리의 이 성분 합금 나노 미립자를 분산제가 포함된 극성 유기용매에서 환원제를 가하여 합성하였다. 합성된 합금 나노미립자의 크기와 모양을 TEM으로 측정하였고, XPS를 이용하여 합금 나노 미립자의 전하 재분포를 측정하여 합금의 생성 여부를 확인하고 합금의 조성도 계산하였다. 또한, 자외선 가시광선 분광기를 이용하여 합금 나노미립자의 조성에 따른표면 공명 흡수현상을측정하였다.

대상 데이터

  • M로 고정시켜 클로로포름에 용해시켰다. HAuCl4 · 4H2O와 Cu(NO3)2 · 3H2O를 소량의 에탄올에 용해시킨 용액을 제조하였다. 이때 금속염의 전체농도는 7X10-4 M이 되도록 일정하게 유지하였다.
  • torr의 고진공 상태이므로 공기 중에서 약하게 표면에 물리 흡착된 불순물들은 거의 탈착된다. X-선 전원은 250 W이고, 광원은 Al Ka 1486.6 eV를 사용하였다. 합금 나노 미립자 표면에 존재하는 계면활성제와 공기 중에서 흡착된 불순물을 제거하기 위하여 아르곤이온으로 5분간 표면을 깍아낸 후에 측정하였다.
  • 환원제 인 sodium borohydride(NaBH4泛 KANTO Chemical 사제품을,그리고 계면활성제인 sodium bis(2-ethylhexyl)-sulfosuccinate(NaAOT, AerosolOT, CH3(CH2)3CH(C2H5)-CH2O2CCH2CH(SO3Na)CO2CH2CH3)는 bod사의 제품을 사용하였다. 계면활성제의 나트륨이온을 수소이온으로 교환하기 위해 Aldrich사의 protonated strong cation resi라 weakly acid macroporous cation exchange resin을 사용하였다.
  • 금속염은 HAuCh : 4H2O, AgNO3와 Cu(NO3)2 - 3H2O를 정제하지 않고 그대로 사용하였으며, 용매로 사용한 클로로포름과 에틸 알콜은 각각 덕산 종합 과학과 MERCK사의 고순도 시약를 정제 없이 사용하였다. 환원제 인 sodium borohydride(NaBH4泛 KANTO Chemical 사제품을,그리고 계면활성제인 sodium bis(2-ethylhexyl)-sulfosuccinate(NaAOT, AerosolOT, CH3(CH2)3CH(C2H5)-CH2O2CCH2CH(SO3Na)CO2CH2CH3)는 bod사의 제품을 사용하였다.
  • O를 정제하지 않고 그대로 사용하였으며, 용매로 사용한 클로로포름과 에틸 알콜은 각각 덕산 종합 과학과 MERCK사의 고순도 시약를 정제 없이 사용하였다. 환원제 인 sodium borohydride(NaBH4泛 KANTO Chemical 사제품을,그리고 계면활성제인 sodium bis(2-ethylhexyl)-sulfosuccinate(NaAOT, AerosolOT, CH3(CH2)3CH(C2H5)-CH2O2CCH2CH(SO3Na)CO2CH2CH3)는 bod사의 제품을 사용하였다. 계면활성제의 나트륨이온을 수소이온으로 교환하기 위해 Aldrich사의 protonated strong cation resi라 weakly acid macroporous cation exchange resin을 사용하였다.
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참고문헌 (31)

  1. T. S. Ahmadi; S. L. Logunov; M. A. El-Sayed, J. Phys. Chem., 1996, 100, 8053. 

  2. M. M. Alvarez; J. T. Khoury; T. G. Schaaff; N. M. Shafigullin; I. Vezmar; R. L. Whetten, J. Phys. Chem., 1997, 101, 3706. 

  3. S. L. Logunov; T. S. Ahmadi; M. A. El-Sayed; J. T. Khoury; R. L. Whetten, J. Phys. Chem. B, 1997, 101, 3713. 

  4. I. Tanahashi; Y. Manabe; T. Tohda; S. Sasaki; A. Nakamura, Appl. Phys., 1996, 79, 1244. 

  5. G. L. Hornyak; C. J. Patrissi; C. R. Martin, J. Phys. Chem. B, 1997, 101, 1548. 

  6. G. De; L. Tapfer; M. Catalano; G. Battaglin; F. Caccavale; F. Gonella; P. Mazzoldi; R. F. Jr. Haglund, Appl. Phys. Lett., 1996, 68, 3820. 

  7. H. B. Liao; R. F. Xiao; J. S. Fu; P. Yu; G. K. L. Wong; S. Ping, Appl. Phys. Chem., 1997, 70, 1. 

  8. D. Richard; P. Roussignol; C. Flytzanis, Opt. Lett., 1985, 10, 511. 

  9. E. J. Heilweil; R. M. Hochestrasser, J. Chem. Phys., 1985, 82, 4762. 

  10. F. Hache; D. Richard; C. Flytzanis; K. Kreibig, Appl. Phys. A, 1988, 47, 347. 

  11. T. Dutton; B. Van Woneterghem; S. Saltiel; N. V. Chestony; P. M. Rentzepis; T. P. Shen; D. Rogovin, J. Phys. Chem., 1990, 94, 1100. 

  12. M. J. Bloemer; J. W. Haus; P. R. Ashley, J. Opt. Soc. Am. B, 1990, 7, 790. 

  13. R. F. Haglund; Jr. L. Yang; R. H. Magruder III; J. E. Witting; K. Berker; R. A. Zuhr, Opt. Lett., 1993, 18, 373. 

  14. K. Kadono; T. Sakaguchi; M. Miya; J. Matsuoka; T. Fukumi, J. Mater. Sci.: Mater. Electron, 1993, 4, 59. 

  15. M. T. Reetz; S. A. Quaiser, Angew. Chem., 1995, 34(20), 2240. 

  16. I. Lisiecki; M. P. Pileni, J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 3887. 

  17. P. Mulvaney; M. Giersig;A. Henglein, J. Phys. Chem., 1992, 96, 10419. 

  18. P. Barnickel; A. Wokaun; W. Sagerand; H. F. Eiche, J. Colloid Interface Sci., 1992, 148, 80. 

  19. R. Lamber; S. Wetjen; G. Schulz-Ekloff; A. Baalmann, J. Phys. Chem., 1995, 99, 13834. 

  20. P. Mulvaney, Langmuir, 1996, 12, 788. 

  21. J. Marignier; J. Balloni; M. Delcourt; J. Chevalier, Nature, 1985, 317, 344. 

  22. L. M. Liz-Marzan; Luis; A. P. Philipse, J. Phys. Chem., 1995, 41, 15120. 

  23. A. Henglein; M. Giersig, J. Phys. Chem., 1994, 98, 6931. 

  24. J. A. Creighton; D. G. Eadon, J. Chem. Soc. Faraday Trans., 1991, 87, 3881. 

  25. C. Fan; L. Jiang, Langmuir, 1997, 13, 3059. 

  26. C. Sangregorsio, P. Bagliou, Langmuir, 1996, 12, 5800. 

  27. J. S. Faulkner; Y. Wang; G. M. Stocks, Phys. Lett., 1998, 81, 1905. 

  28. K. Ripken, Z. Phys., 1972, 250, 228. 

  29. M. Schluter, Z. Phys., 1972, 250, 87. 

  30. G. C. Papavassiliou, J. Phys. F: Met. Phys., 1976, 6, 2103. 

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