$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

박막 트랜지스터 기판 검사를 위한 PDLC 응용 전기-광학 변환기의 동특성 분석
Dynamic Analysis of the PDLC-based Electro-Optic Modulator for Fault Identification of TFT-LCD 원문보기

한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.20 no.4 = no.145, 2003년, pp.92 - 102  

정광석 (국립 충주대학교 기계공학과) ,  정대화 (LG전자 생산기술원) ,  방규용

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

To detect electrical faults of a TFT (Thin Film Transistor) panel for the LCD (Liquid Crystal Display), techniques of converting electric field to an image are used One of them is the PDLC (polymer-dispersed liquid crystal) modulator which changes light transmittance under electric field. The advant...

주제어

참고문헌 (11)

  1. Henley, F. J., 'Flat Panel In-Process Test, Repair and Inspection: An Overview,' SID Digest, pp. 623-627, 1992 

  2. Drzaic, P. S., 'Liquid Crystal Dispersions,' World Scientific, pp. 183-338, 1995 

  3. Kido, T., Kishi, N. and Takahashi, H., 'Optical Charge-Sensing Method for Testing and Characterizing Thin-Film Transistor Arrays,' IEEE J. of Selected Topics in Quantum Electronics, Vol. 1, No.4, pp. 993-1001,1995 

  4. Wisnieff, R., Jenkis, L., Polastre, R. and Troutman, R., 'In-process testing of thin - film transistor arrays,' SID Int. Symp. Dig. Tech. Papers, pp. 190-193, 1990 

  5. Henley, F. J., 'Capacitance Imaging System Using Electro-Optics,' U.S. Patent No. 5,170,127,1992 

  6. Liu, Y. M., Henley, F. J, Miller, M. and Salerno, J., 'Voltage $Imaging^{TM}$ for L-Contact Panel Testing,' SPIE Proceedings, Vol. 2651, pp. 126-129, 1996 

  7. Brunner, M., Schmid, R., Schmitt, R. and Winkler, D., 'In-Process Flat Panel Display Testing with Electron Beams,' SID Digest, pp. 755-758,1994 

  8. Dax, M., 'Non-Contact Electrical Testing Increases Display Yields,' Semiconductor International, pp. 80, October, 1996 

  9. Fergason, J. L., 'Microencapsulated Liquid Crystal and a Method and System for Using Same,' U.S. Patent No. 6,204,900, 2001 

  10. Welsh, L., White, L., 'NCAP Displays: Optical Switching and Dielectric Properties,' SID Digest, pp. 220-223, 1990 

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로