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NTIS 바로가기전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.17 no.4, 2004년, pp.367 - 372
서영석 (영남대학교 전자정보공학부) , 김인성 (한국전기연구소) , 송재성 (한국전기연구소) , 남효덕 (영남대학교 전자정보공학부)
Two new extraction methods for the thermal Resistance of HBT(Heterojunction Bipolar Transistors) are proposed. First, the analytical expression, based on the thermal characteristics that the base to emitter junction voltage drops with the increase of junction temperature, is derived. Second, the the...
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Hafizi, M., Crowell, C.R., Grupen, M.E.. The DC characteristics of GaAs/AlGaAs heterojunction bipolar transistors with application to device modeling. IEEE transactions on electron devices, vol.37, no.10, 2121-2129.
Dawson, D.E., Gupta, A.K., Salib, M.L.. CW measurement of HBT thermal resistance. IEEE transactions on electron devices, vol.39, no.10, 2235-2239.
Dupuis, J., Hajji, R., Ghannouchi, F.M., Saab, K., Lavallee, S.. A new DC model of HBT's including self-heating effect suitable for circuit simulators. IEEE transactions on electron devices, vol.42, no.12, 2036-2042.
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