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Darveaux 모델에 의한 플립칩 패키지 솔더 접합부의 열피로 해석 및 수명 평가
The Thermal Fatigue Analysis and Life Evaluation of Solder Joint for Flip Chip Package using Darveaux Model 원문보기

大韓溶接學會誌 = Journal of the Korean Welding Society, v.22 no.6, 2004년, pp.36 - 42  

신영의 (중앙대학교 기계공학부) ,  김연성 (중앙대학교 기계공학부) ,  김종민 (중앙대학교 기계공학부) ,  최명기 (중앙대학교 기계공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Experimental and numerical approaches on the thermal fatigue for the solder joint of flip chip package are discussed. However, it is one of the most difficult problems to choose the proper fatigue model. It was found that viscoplstic FE model with Darveaux method was very desirable and useful to pre...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 따라서 본 논문은 최근 경박 단소화, 고기능화의 요구에 맞는 플립칩 패키지를 대상으로 솔더 접합부의 열 피로 특성에 관한 연구를 점소성 이론을 이용하여 플립 칩 패키지의 열피로 수명応)을 평가하였으며, 그 타당성을 실제 열피로 실험을 통하여 비교, 검토하였다.
  • 본 연구는 전송 속도의 고속화, 디바이스의 경박 단소 화 추세에 따른 전기, 전자, 통신 분야에 금후 폭넓게 사용될 플립 칩 패키지의 장기 신뢰성 중 가장 중요시되는 열 피로 수명에 관하여 이론 및 실험을 통하여 검토 하였다. 해석과 실험을 통해 얻은 결론은 다음과 같다.
  • 실험조건, 대상물의 재료종류, 크기, 형상, 특히 가열 온도조건에 따라 기존의 연구자들은 솔더의 거동을 예측하기 위한 각종 모델들을 적용하였다. 본 연구에서는 솔더를 점소성으로 모델링하여 열피로 수명을 이론 및 실험을 통하여 비교 검토하였다. 특히 열 사이클 하에서 솔더의 낮은 항복 강도와 높은 유연성의 점성 특성을 무시할 수 없기 때문에 전자기기의 솔더 접합부의 거동을 설명하는 데는 Anand의 법칙4)이 많이 사용되고 있다.

가설 설정

  • 또한, 최외각 솔더 접합부의 지름 120㎛가 완전히 파단 할 때까지를 열 피로수명으로 가정하고, 열 피로 수명식인 (7)식에 대입하면 1075 사이클이 열 피로 수명이 된다. 즉, 본 연구의 모델의 경우 초기 균열까지 의 사이클 수는 440이며 완전히 파단 될 때까지의 균열 진전 사이클은 약 635 사이클로 열피로 수명은 약 1075 사이클였다.
  • 또한, 해석에 사용한 각 재료의 물성치는 Table 2에 나타내었으며, 본 연구에 사용한 각 요소의 종류 및 사이즈를 Table 3에 나타내었다. 아울러 해석의 관심이 되는 솔더 접합부를 제외한 다른 재료들은 모두 등방성의 탄성재료로 가정하였다.
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참고문헌 (10)

  1. T. Chung, G. Haskell : Trends in Microelectronics Packaging and Interconnection, Semiconductor Electronics. 1996. A1- A5 

  2. Rovert Darveaux : Effect of Simulation Methodology on Solder Joint Crack Growth Correlation, IEEE Electronic Components and Technology Conference, 2000. 1048-1058 

  3. Erdogan Madenci et al. Fatigue Life Prediction of Solder Joints in Electronic Packages with ANSYS. The University of Arizona. 2001. 4-5 

  4. Anand, L.: Constitutive Equations for the RateDependant Deformation of Metals at Elevated Temperature. ASME Journal of Materials Technol. (1982),104-1, 12-17 

  5. Alfred Yeo et al, : Flip Chip Solder Joint Fatigue Life Model Investigation, IEEE, Electronics Packaging Technology Conference. 2002, 107-114 

  6. Liu. y. et al, : Assembly Process Induced Stress Analysis for New FLMP Package by 3D FEA, IEEE. 52th Electronic Components and Technology Conference. 2001. 211-219 

  7. John H. L. Pang: Thermal Cycling Analysis of Flip Chip Solder Joint Reliability. IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies. 24-4. 2001. 1048-1058 

  8. T. Anderson Revisit of Life-Prediction Model for Solder Joints, IEEE Electronic Components and Technology Conference, 2000, 1064-1069 

  9. J. H. Okura, S. Shetty : Guidelines to select underfills for flip chip on board assemblies, IEEE Electronic Components and Technology Conference,1999, 9-594 

  10. H. L. J. Pang et al : Temperature Cycling Fatigue Analysis of Fine Pitch Solder Joints, ASME Advances in Electronic Packaging, 2(1997), 1495-1500 

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