[논문]The Analysis of Discharge Distribution due to the Inner Void of Extra High Voltage Cable

Kim Tag-Yong; Hong Jin-Woong

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The Analysis of Discharge Distribution due to the Inner Void of Extra High Voltage Cable 원문보기

KIEE international transactions on electrophysics and applications, v.5C no.4, 2005년, pp.155 - 160

Kim Tag-Yong (Dept. of Electrical Engineering, Kwangwoon University) , Hong Jin-Woong (Dept. of Electrical Engineering, Kwangwoon University)

Abstract ▼ AI-Helper

This paper addresses the discharge characteristics of cross-linked polyethylene according to void by the Weibull function. It analyzes discharge number and amount of discharge using Weibull distribution to identify the inter-relationship between partial discharge and defect. We detected a 10 second discharge. The applied voltage increased by 1 [kV] at discharge inception voltage. As a result, in a no-void specimen, the shape parameter was consistent according to the increase of voltage, whereas, in a void specimen, it increased according to the increase of voltage. As the result, the shape parameter expressed a fixed value at no-void specimen. However, in void specimen, according to increasing voltage shape parameter rapidly increases.

주제어

AI 본문요약
AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

가설 설정

(4) The shape parameter of discharge amount is similar to that of discharge number distribution in no-void specimen. But in void specimen, when it reaches trip voltage, shape parameter increases to 13.

이론/모형

es occurred even with the same conditions, so there were difficulties involved in applying them to assessment. For quantitative analysis of this pattern, Weibull analysis on discharge n_나mber and amount of discharge was performed.
This experiment utilized PD measurement equipment, which is product of AVO. CO.

성능/효과

(2) In void specimen along with the increase of voltage, it was confirmed that the high amount of discharge is occurred in the early phase region at 10° and 183°;.
(3) Shape parameter of discharge number in no-void specimen indicated values under 2, with the size of void specimen 5~7. It was confirmed that the discharge occurs in regular distribution.

참고문헌 (9)

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Kuniharu IMAI, 'Statistical Analysis of Tree Propagation from a Simulated Tree Channel with Weibull Distribution and Influence of Temperature on it' T.IEE Japan, Vol. 120-A, No. 5, pp. 645-650, 2000
Kuniharu IMAI, 'Relationship between Diameter of Simulated Tree Channel and Tree Propagation from its Tip', J. Inst. Electrostate. Japan, Vol. 26, No. 2, pp.84-90, 2002
T.J. Gallaghe, A.J. Pearmain, 'HIGH VOLTAGE Measerement, Testing and Design', JOHN WILEY&SONS Ltd., pp. 66-72, 1983
Imai. K, Ito.K, Shimizu.N, Nawata.M, 'Influence of Polymer Structure on Tree Growth from a Simulated Tree Channel', 2000 Conference on Electrical Insulation and Dielectric, Vol. 1, pp. 337-340, 2000
J.S. Barrett, M.A. Green; A STATISTICAL METHOD FOR EVALUATING ELECTRICAL FAILURES; IEEE Tran. Power Delivery, Vol. 9, No. 3, pp. 1524-1530, 1994

상세보기
Wu E.Y, Sune.J, Lai W, 'On the Weibull shape factor of intrinsic breakdown of dielectric films and its accurate experimental determination.', IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 49, No. 12, pp. 2141-2150, 2002

상세보기
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상세보기
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