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우주방사능 효과를 고려한 저가 COTS 소형위성의 신뢰성 분석
Reliability Analysis with Space Radiation of Low-Cost COTS Small Satellite 원문보기

한국항공우주학회지 = Journal of the Korean Society for Aeronautical & Space Sciences, v.34 no.2, 2006년, pp.56 - 67  

정지완 (한국항공대학교) ,  장영근 (한국항공대학교) ,  문병영 (한국항공대학교)

초록
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위성개발 시 비용의 절감과 효율적인 설계 보장을 위해 신뢰성과 고장모드 분석이 필요하지만, COTS 소자를 사용하는 소형위성의 경우 통상 제작자로부터 소자에 대한 실패율이 제공되지 않기 때문에 신뢰성 계산이 어렵다. 이 논문에서는 실패율 예측을 위해 MIL-HDBK-217F의 시험적/경험적 데이터에 기초한 방법을 사용하였고, MIL-HDBK -217F에서 고려되지 않은 방사능 환경을 실패율 예측에 반영하기 위해 방사능 효과들 중 신뢰도에 영향을 미칠 수 있는 $10^-9$failures/device/$10^6$hours 이상의 발생확률을 갖는 SEL 발생확률을 실패율 예측 결과에 추가로 반영하였다. 결국 본 논문은 실패율이 제공되지 않는 COTS 소자를 사용하는 저가 소형위성에 대해 통계적 기법을 이용한 새로운 신뢰성 해석 방법을 제안하고, 현재 개발 중인 25kg급의 초소형위성인 HAUSAT-2에 이 방법을 적용하여 분석한 결과를 보여준다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

The reliability and failure mode effect analysis are effective means to achieve efficient and cost-reduction design for satellite development. The failure rate of COTS (Commercial-Off-The-Shelf) parts required for reliability analysis is not usually provided from the manufacturer. Space environment ...

주제어

#HAUSAT-2, reliability analysis(신뢰성 분석), COTS(Commercial-Off-The Shelf), SEU(Single Event Upset), SEL(Single Event Latch-up), RBD(Reliability Block Diagram)  

참고문헌 (8)

  1. 소동수, 강희정, 'MIL-HDBK-217을 이용한 전자부품의 실패율 추정과 가속수명시험에 관한 연구', Journal of the Korean Institute of Plant Engineering, Vol. 2, pp. 17-33, 1997 

  2. GLAST Project Mission System Specification, Goddard Space Flight Center, 433-SPEC-0001, 2002 

  3. NASA, 'Reliability Prediction of Electronic Equipment', MIL-HDBK-217F, 1991 

  4. John Wiley & Sons, 'Plastic Encapsulated Microelectronics', Wiley interscience, New York 10158-0012, 1995 

  5. Walter E. Willing. Norman F. Goldstein, 'Combining Single-Event Latchup and Reliability Requirements for Space Vehicles', PROCEEDINGS Annual RELIABILITY and MAINTAINABILITY Symposium, 1995 

  6. Goddard Space Flight Center, 'Radiation Requirements for the LRO', Greenbelt, Maryland, 2005 

  7. NASA, 'Reliability Modeling and Prediction', MIL-STD-756B, 1981 

  8. NEC, 'Semiconductor Failure Rate', C11178EJCVOIFOO, NEC Electronics Corporation, 2005 

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