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나노 가이드 시스템에서 초기 변위의 영향에 관한 연구
Effect of an Initial Displacement on a Nano-guiding System 원문보기

한국소음진동공학회논문집 = Transactions of the Korean society for noise and vibration engineering, v.16 no.4 = no.109, 2006년, pp.346 - 354  

이무연 ((주)LG전자, DA연구소) ,  권대갑 (한국과학기술원 기계공학과) ,  이동연 (한국과학기술원 기계공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This study shows that the system performance of a positioning system composed of a piezoelectric actuator-driven flexure guide depends largely on the preload applied on the flexure guide and the driving input amplitude. We used a flexure guided system that had an original resonant frequency of 54 Hz...

주제어

참고문헌 (8)

  1. Smith, S. T., 2003, Flexure: Eelements of Elastic Mechanisms, Taylor & Francis Corp, London 

  2. Yoo, W. D., Kim, J. O. and Park, K. H., 2005, 'Development of a Contact-Type Counting Device Using a Piezoelectric Film as a Sensor,' Transactions of the Korean Society for Noise and Vibration Engineering, Vol. 15, No.2, pp. 239-247 

  3. Wei Xu, Tim King, 1996, 'Flexure Hinges for Piezo Actuator Displacement Amplifiers, Flexibility, Accuracy and Stress Considerations,' Precision Engineering, Vol. 19, pp. 4-10 

  4. Ryu, J. W., Gweon, D. G. and Moon, K. S., 1997, 'Optimal Design of a Flexure Hinge Based XY Wafer Stage,' Precision Engineering, Vol. 21, pp. 18-28 

  5. Ryu, J. W., Lee, S. Q., Gweon, D. G., Moon, K. S., 1999, 'Inverse Kinematic Modeling of a Coupled Flexure Hinge Mechanism,' Mechatronics, Vol. 9, pp. 657-674 

  6. Lee, D.-Y. and Lee, M. Y, 2005, 'A Flexure Guided Planar Scanner for Scanning Probe Microscope; Part l: Design and Analysis of Static and Dynamic Properties,' Transactions of the Korean Society for Noise and Vibration Engineering, Vol. 15, No.6, pp. 667-673 

  7. Lee, D. - Y., Lee, M. Y. and Gweon, D. G., 2006, 'Orthogonality Correction of Planar Sample Scanner for Atomic Force Microscope,' Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 45, No. 13, pp. L370-L372 

  8. Lee, D.-Y., Kim, D. M. and Gweon, D. G., 2006, 'Design and Evaluation of a Two-dimensional Metrological AFM Using a Planar Nano-scanner,' Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 45, No. 3B, pp. 2124-2127 

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