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공초점현미경과 원자현미경을 이용한 가공된 시료 표면의 형상측정
Analysis of a processed sample surface using SCM and AFM 원문보기

한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.23 no.4 = no.181, 2006년, pp.52 - 59  

배한성 (고등기술연구원 레이저초정밀공정팀) ,  김경호 (고등기술연구원 레이저초정밀공정팀) ,  문성욱 (고등기술연구원 레이저초정밀공정팀) ,  남기중 (고등기술연구원 레이저초정밀공정팀) ,  권남익 (한국외대 물리학과) ,  김종배 (고등기술연구원 레이저초정밀공정팀)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Surface qualities of a micro-processed sample with a pulse laser have been investigated by making use of scanning confocal microscope(SCM) and atomic force microscope(AFM). Samples are bump electrodes and ITO glass of LCD module used in a mobile phone and a wafer surface scribed by UV laser. A image...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 알 수 있을 것이다. 본 논문에는 두 개의 현미경을 통합하기 위한 전단계로 각각의 현미경을 구성하여, 여러 금속 시료의 표면영상을 측정하고 비교해 보았다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (12)

  1. Higgins, T. V., 'Microscopes probe the imperceptible,' Laser Focus World, Vol. 31, No.3, PP. 89-95, 1995 

  2. Wilson, T. ed., 'Confocal Microscopy,' Acadenic Press, London, 1990 

  3. Kimura, S. and Munakata, C., 'Three-dimensional optical transfer function for the fluorescent scanning optical microscope with a slit,' Appl. Opt, Vol. 29, No.7, pp. 1004-1007, 1990 

  4. Lee, J. S. and Kwon, Namic, 'Scanning confocal microscope using a semiconductor laser,' Applied physics of Korea, Vol. 9, No.4, pp. 440-443, 1996 

  5. Yoo, S. J. and Kwon, Namic, 'Scanning confocal microscope using a quad-detector,' Journal of the Optical Society of Korea, Vol. 8, No.2, pp. 165-168, 1997 

  6. Kim, K. S. and Kwon, Namic, 'The study property on the michelson interferometric microscopy,' Journal of the Optical Society of Korea, Vol. 10, No.5, pp. 369-372, 1999 

  7. Kim, J. B., Ryu, K. H., Park, D. S., Noh, J. E. and Kwon, Namic, 'Scanning confocal microscope by oscillation of an optical fiber,' Journal of the Optical Society of Korea, Vol. 14, No. 1, pp. 80-84, 2003 

  8. Wilson, T., 'Optical Sectioning in Confocal Fluorescent Microscopes,' J. Microsc, Vol. 154, pp 143-156, 1989 

  9. Karrai, Khaled, Tiemann, Ingo, 'Interfacial shear force microscopy,' Physical Review B, Vol. 62, No. 19, pp. 13174-13181, 2000 

  10. Robert, D. Grober, Jason, Acimovic, 'Fundamental limits to force detection using quartz tuning forks,' Rev. Sci. Instrum, pp. 2776-2780, 2000 

  11. Kramer, A., Segura, J. M., 'A cryogenic scanning near-field optical microscope with shear-force gapwidth control,' Rev. Sci. Instrum, Vol. 73, No. 8, 2002 

  12. Adelmann, Ch., Hetzler, J., 'Experiments on the depolarization near-field scanning optical microscope,' Appl. Phys. Lett, Vol. 74, No.2, pp. 179-181, 1999 

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