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NTIS 바로가기한국해양정보통신학회논문지 = The journal of the Korea Institute of Maritime Information & Communication Sciences, v.11 no.4, 2007년, pp.793 - 799
Generally, a semiconductor chip measured with a few micro units is captured by line scan camera for higher inspection accuracy. However, the faulty inspection requires an exact boundary detection algorithm, because it is very sensitive to scan speed and lighting conditions. In this paper we propose ...
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