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NTIS 바로가기한국공작기계학회논문집 = Transactions of the Korean society of machine tool engineers, v.16 no.5, 2007년, pp.122 - 128
김동환 (서울산업대학교 기계설계자동화공학부) , 김영대 (서울산업대 나노생산기술연구소) , 박만진 (서울대학교 기계항공공학부) , 장동영 (서울산업대학교 산업정보시스템공학과) , 박근 (서울산업대학교 기계설계자동화공학부)
The electric part of thermal SEM(Scanning Electron Microscopy) consists of high voltage generation, lens control, and image processing. Several methodologies for enhancing SEM image are addressed and those results are verified through analyses and experiments. The controller employes a DSP(Digital S...
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Orloff, J., 2004, Handbook of Charged Particle Optics, CRC Press
Lee, R. E, 1993, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, PTR Prentice Hall
Reimer, L., 1998, Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, Berlin
Millman, J. and Grabel, A, 'Microelectronics, second edition,' Large-Signal Electronics Power Circuits and Systems, Vol. 17, pp. 773-812
Kang, H. B. and Lee, J. A, 'Electromagnetic Theory,' Electromagnetic Induction, Vol. 12, pp. 287-299
Park, K. Park, M. J., Kim, D. H. and Jang, D. Y., 2006, 'Numerical analysis for electron optical system of a field emission SEM,' Trans. Kor. Soc. Mech. Engr. (A), Vol. 30, pp. 1577-1583
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