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NTIS 바로가기한국공작기계학회논문집 = Transactions of the Korean society of machine tool engineers, v.16 no.5, 2007년, pp.140 - 144
박만진 (서울대학교 기계항공공학부) , 김일해 (CAMSYS(주)) , 김동환 (서울산업대학교 기계설계자동화 공학부) , 장동영 (서울산업대학교 산업정보시스템 공학과) , 한동철 (서울대학교 기계항공공학부)
As an electron scanning microscopes has traditionally required a considerably large room equipped with several service and pipe lines due to its inherent size. As an alternative, a small sized SEM, simply called a mini-SEM, is introduced even if the performance in terms of magnification and resoluti...
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Orloff Jon., 2004, Handbook of Charged Particle Optics, CRC Press, New York
Munakata, C. and Watanabe, H., 1962, 'A New Bias Methode of an Electron Gun,' Journal of Electron Microscopy, Vol. 11, No. 1, pp. 47-51
Mahapatra, S., K., Dhole, S. D. and Bhoraskar, V. N., 2005, 'A 20 keV electron gun system for the electron irradiation experiments,' Nucl. Instr. and Meth. A 536 222-225
John, C. H. S., 2003, High-Resolution Electron Microscopy, Oxford Science Publications, pp. 15-16
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