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PRISM 신뢰성 예측규격서를 이용한 전자부품(PCB) 신뢰도 예측
Reliability prediction of electronic components on PCB using PRISM specification 원문보기

대한안전경영과학회지 = Journal of the Korea safety management & science, v.10 no.3, 2008년, pp.81 - 87  

이승우 (한국기계연구원 지능형생산시스템연구본부) ,  이화기 (인하대학교 산업공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The reliability prediction and evaluation for general electronic components are required to guarantee in quality and in efficiency. Although many methodologies for predicting the reliability of electronic components have been developed, their reliability might be subjective according to a particular...

주제어

참고문헌 (13)

  1. 김원경, "시스템 신뢰도 공학", 교우사, (1999) 

  2. 모아소프트, "신뢰성 예측 가이드", 교우사, (2002):12-176 

  3. 이수훈, 김종수, 이승우 외, "머시닝센터의 고장모드 해석에 관한 연구", 한국정밀공학회지, 18(6), (2001):74-79 

  4. 이치우, 이성우, "응용신뢰성공학", 구민사, (1996) 

  5. Black, A.L., "Bellcore system hardware reliability prediction", Proceedings of a Reliability Maintainability Symposium, (1996):247-261 

  6. Cassanelli, G., Nura, G., Cesaretti, F., Vanzi, M. and Fantini, F., "Reliability predictions in electronics industrial application", Microelectronics Reliability, 45(9), (2005):1321-1326 

  7. Denson, W., "A tutorial: PRISM", Reliability Analysis Center, (1993):1-6 

  8. Foucher, B., Boullie, J., Meslet, B. and Das, D., "A review of reliability prediction methods for electronics devices", Microelectronics Reliability, 42(8), (2002):1155-1162 

  9. O'Connor, P., Head, M.G. and Joy, M., "Reliability prediction for microelectronics systems", Reliability Engineering, 10(3), (1984): 129-140 

  10. Palo, S., "Reliability prediction of microcircuit", Microelectronics Reliability, 23(2), (1983):283-294 

  11. Pecht, M., Das, D. and Ramakrishnan, A., "The IEEE standards of reliability program and reliability prediction methods for electronics equipment", Microelectronics Reliability, 42(9), (2002): 1259-1266 

  12. Reliability Analysis Center, "PRISM & Failure Mode/ Mechanical Distribution Document", RAC(USA), (1997) 

  13. Valsena, N., "The use of MIL-HDBK-217 with the SCC EEE components", Microelectronics Reliability, 34(4), (1994):711-719 

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