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NTIS 바로가기전기학회논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, v.57 no.2, 2008년, pp.208 - 213
김병우 (울산대학교 전기전자정보시스템학과부) , 최범진 (자동차부품연구원) , 조현덕 (울산대학교 전기전자정보시스템공학부) , 이도희 (울산대학교 전기전자정보시스템공학부)
In order to assess the reliability of the electronics control unit for vehicles, accelerated life test model and procedure are developed. By using this method, failure mechanism and life distribution are analyzed. The main results are as follows : i) the main failure mechanism is degradation failure...
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S.J. Oh, "Life Assesment of the Automotive Electronics Virtual Qualification," The Graduate School of Hanyang University, 2006
"A Review of Equipment Aging Theory and Technology," EPRI, NP-1558, 1980
Department of Defense, MIL-HDBK-217 FN2, DOD, 1995
E. Suhir, "Accelerated Life Testing (ALT) in Microelectronics and Photonics : Its Role, Attributes, Challenges, Pitfalls, and Interaction With Qualification Tests," Journal of Electronic Packaging," Vol. 124, No. 11, pp. 281-291, 2002
GM, "General Specification for Electrical/ Electronic Component," GMW3172, pp.49, 2004
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