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이방성 도전성 접착제를 이용한 고밀도 전자 패키징 기술
High-Density Electronic Packaging Technology using Anisotropic Conductive Adhesives 원문보기

大韓溶接·接合學會誌 = Journal of the Korean Welding and Joining Society, v.26 no.1, 2008년, pp.44 - 49  

이진운 (중앙대학교 기계공학부) ,  이성혁 (중앙대학교 기계공학부) ,  김종민 (중앙대학교 기계공학부)

초록이 없습니다.

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 연구에서는 ACAs를 이용한 고밀도 전자 패키 기 술을 살펴보고, 저융점 합금재료를 이용한 이방성도전 성 접착제의 합성과 이를 이용한 고 신뢰성 접속공정을 제안, 소개할 것이다. 또한, 이론 개발 연구를 통해 본 연구에서 새롭게 제안하는 솔더 입자의 용융, 유동 (rheology), 융합(coalescence)현상에 대한 이론 해석 및 도전 메커니즘을 규명하기 위한 수치 해석적 연구내용을 소개할 것이다.
  • 본 연구에서는 저융점 합금재료를 이용한 이방성 도 전성 접착제와 이를 이용한 고밀도 전자 패키징 기술을 소개하였다. 또한, 접합 프로세스동안 도전입자들의 융 합특성을 수치해석 통해 알아보았다.

가설 설정

  • 4는 도전입자의 지름이 40㎛일 때 시뮬레이션 결과이다. 초기 도전입자들의 분포는 젖음 영역과 비젖 음 영역에 직접 접촉하고 있는 상태를 가정하여 시뮬레이션을 수행하였다. 시간이 지남에 따라 비젖음 영역에 있는 도전입자들은 벽면에 젖지 못하고, 주위에 다른 필러들과 융합하게 되고, 젖음 영역의 필러들은 벽면에 젖고, 다른 융합된 입자들과도 융합되어 칩과 기판의 젖음 영역을 연결하는 도전 패스를 형성하게 된다.
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참고문헌 (19)

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  19. J. U. Brackbill, D. B. Kothe, and C. Zemach, J Comput Phys., 100(1992), 335 

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