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무전해 도금법을 이용한 Sn-Cu 범프 형성에 관한 연구
Fabrication of Sn-Cu Bump using Electroless Plating Method 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.15 no.2, 2008년, pp.17 - 21  

문윤성 (홍익대학교 신소재공학과) ,  이재호 (홍익대학교 신소재공학과)

초록
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Sn-Cu계 솔더 범프에서 무전해도금법을 이용한 범프 형성에 대한 연구를 하였다. $20{\mu}m$ via에 전기도금법으로 구리를 채운 웨이퍼 위에 ball형태의 범프를 형성하기 위하여 구리와 주석을 도금하여 약 $10{\mu}m$높이의 범프를 형성하였다. 구리 범프 형성 시 via위에 선택적으로 도금하기 위하여 활성화 처리 후 산세처리를 실시하고 무전해 도금액에 안정제를 첨가하였다. 무전해도금법을 이용하여 주석 범프 형성 시 도금층이 구리 범프에 비해 표면의 균일도가 벌어지는 것으로 관찰되었지만 reflow공정을 실시한 후 ball 형태의 균일한 Sn-Cu 범프를 형성하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The electroless plating of copper and tin were investigated for the fabrication of Sn-Cu bump. Copper and tin were electroless plated in series on $20{\mu}m$ diameter copper via to form approximately $10{\mu}m$ height bump. In electroless copper plating, acid cleaning and stabi...

주제어

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문제 정의

  • 유럽에서는 RoHS(Restriction of Hazardous Substance)오卜 WEEE(Waste of Electrical and Electronic Equipments) 를 통하여 납에 대한 규제가 이 미 실시 되고 있다. Pb-Sn 대체 재료로 Sn을 기반으로 하여 여기에 Ag, Cu, In 등이 합금 형태로 범프를 형성하는 연구들이 진해되고 얏1匸上2 이중에서도 본 연구에서는 Sn-Cu계 범프를 무전해 도금법으로 형성하는 연구를 실시하였다.
  • 우선 via 위에무전해 도금을 이용하여 구리층을 먼저 형성 한 후 주석을 무전해 도금하는 순서로 실험을 실시하였다. 무전해 구리도금 시 선택적인 구리도금의 영향을 알아보기 위하여 첨가제, 산세처리 유무의 조건을 바꿔가며 그 영향을 알아보았다. Wafer에 형성된 구리산화막을 제거하기 위하여 10% H2SO4 약 1분간 에칭한 후 활성화 처리를 하였다.
  • 이2)산성용액에서무전해 주석도금은 도금충의 두께가 일정하고 저온 공정이 가능하다는 장점을 가지고 있다. 연구에서는 구리와의 치환반응을 고려하고 주석의 산화를 방지하기 위하여 산성 무전해 주석도금액을 선택하였다. 구리 via 위에 무전해 구리도금과무전해 주석도금을 한 후 reflow 시 크기가 일정한 Sn-Cu 솔더 범프를 얻을 수 있었다.
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