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NTIS 바로가기한국측량학회지 = Journal of the Korean Society of Surveying, Geodesy, Photogrammetry and Cartography, v.26 no.4, 2008년, pp.351 - 357
이창노 (서울산업대학교 건설공학부) , 이병길 (경기대학교 토목공학과) , 어양담 (건국대학교 신기술융합학)
An aerial multi-looking camera system equips itself with five separate cameras which enables acquiring one vertical image and four oblique images at the same time. This provides diverse information about the site compared to aerial photographs vertically. The geometric relationship of oblique camera...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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셀프 캘리 브레이션의 결과은 어떤 조건에 의하여 영향을 받는가? | 비 측정용(non-metric) 카메라를 이용하여 3차원 공간 측량을 하는 경우, 정확한 내부 표정요소 획득을 위해 셀프 캘리브레이션(Self‐Calibration)을 수행한다. 셀프 캘리 브레이션의 결과는 복원하고자 하는 왜곡 변수의 선정, 캘리브레이션 사이트의 구성 및 촬영 영상의 조합 등 여러 가지 조건에 의하여 영향을 받는다. 내부 표정요소로는 1970년대 초에 제안된 8 매개변수 식을 가장 많이 활용하여 왔다(Kenefick 등, 1972). | |
Fraser(1997)는 내부 표정요소에 대해서 어떤 식을 제안하였는가? | 내부 표정요소로는 1970년대 초에 제안된 8 매개변수 식을 가장 많이 활용하여 왔다(Kenefick 등, 1972). Fraser(1997)는 이미지의 x, y축간의 축척 및 비직교성분을 나타내는 2개의 변수를 추가하여 10 매개변수 식을 제안하였고, 비 측정용 카메라의 경우, 초점거리(c), 주점이동량(x0, y0), 방사왜곡 계수(k1)의 네 인자로 어느 정도 정확한 결과를 얻을 수 있음을 밝혔다. 줌 렌즈 CCD 카메라의 변수계산과 3차원 위치정확도 평가 연구가 수행되었고, 초점거리 변화에 따른 방사왜곡 관련 변수의 패턴 분석 연구가 진행된 바 있다(유환희 등, 2003; 정성수 등 2008). | |
셀프 캘리브레이션의 목적은? | 비 측정용(non-metric) 카메라를 이용하여 3차원 공간 측량을 하는 경우, 정확한 내부 표정요소 획득을 위해 셀프 캘리브레이션(Self‐Calibration)을 수행한다. 셀프 캘리 브레이션의 결과는 복원하고자 하는 왜곡 변수의 선정, 캘리브레이션 사이트의 구성 및 촬영 영상의 조합 등 여러 가지 조건에 의하여 영향을 받는다. |
Fraser, C.S. (1997), Digital camera selfcalibration, ISPRS Journal of Photogrammetry & Remote Sensing, Vol. 52, pp. 149-159
Gruen, A., Beyer, H.A. (1992), System calibration through selfcalibration. Workshop on Calibraiton and Orientation of Cameras in Computer Vision(TU-1), ISPRS XVII Congress, Washington, DC, p. 33
Heier, H., Kiefner, M., Zeitler, W. (2002), Calibration of the Digital Modular Camera, FIG XXII International Congress, Washington, D.C. USA
Kenefick, J.F., Gyer, M.S., Harp, B.F. (1972), Analytical selfcalibration, Photogramm. Eng. 38, pp.1117-1126
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Mikhail, E. M. and Bethel, J. S., McGlone, J. C. (2001), Introduction to modern photogrammetry, John Wiley & Sons Inc., New York, pp. 136-137
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