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NTIS 바로가기Transactions on electrical and electronic materials, v.10 no.1, 2009년, pp.5 - 8
Yoon, Jung-Rag (R&D Center, Samwha Capacitor Co., Ltd.) , Lee, Kyung-Min (R&D Center, Samwha Capacitor Co., Ltd.) , Lee, Serk-Won (Department of System and Control Engineering, Hoseo University)
The reliability of multilayer ceramic capacitor with active thin dielectric layer was investigated by highly accelerated life test at various stress condition. The distribution of multilayer ceramic capacitor failure times is plotted as a function of time from Weibull distribution function. Accordin...
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