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[국내논문] 공정능력과 시그마 수준의 표시에 대한 연구 : 다수 위치측정에 대한 공정능력지수 기준
A Study on Expression of Process Capability and Sigma Level 원문보기

산업경영시스템학회지 = Journal of society of korea industrial and systems engineering, v.32 no.1, 2009년, pp.111 - 116  

이도경 (금오공과대학교 산업공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Process capability indices have been widely used in manufacturing industries to provide a quantitative measure of process performance. PCIs have been developed to represent process capability more exactly. In the previous studies, only one designated location on each part has been measured. But mult...

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문제 정의

  • 본 연구에서는 단일 공정의 공정능력을 보다 전반적이고 대표성 있게 표현하기 위해 대상물의 여러 위치를 측정하는 경우, 단일 공정이지만 시스템적인 방법으로 접근하여 새로운 공정능력지수를 제안하고자 한다.
  • 본 연구의 필요성을 이해시키기 위해 대상 공정을 디스플레이 패널 공정을 예로 들어 공정능력지수를 계산하는 방법을 제안한다.
  • 본 연구에서는 단일 공정에서 개별 부품 당 여러 측정 위치에서 얻어지는 품질 변동을 어떻게 하나의 공정능력지수로 나타낼 것인가에 대해서 연구하였다. 위치 공정능력을 하위 개별 공정능력으로 간주하고, 이들 개별 공정능력을 전체 공정능력으로 표현하는 시스템 공정능력지수의 개념으로 접근하여 공정능력지수를 제시하였다.
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참고문헌 (10)

  1. 이도경; “공정능력지수 개발”, 금오공과대학교 논문집, 20 : 153-160, 1999 

  2. 이도경, 이현석; “다수 측정 위치를 갖는 단일 공정의 공정능력지수”, 한국산업경영시스템학회, 30(3) : 28-36, 2007 

  3. 조남호, 이용훈; “다변량 시스템 공정능력지수(SCpsk) : A New Multivariate System Process Capability Index", 안전경영과학회지, 5(3): 145-156, 2003 

  4. 정영배, 김연수; “공정능력지수에 관한 비교와 적용”, 한국산업경영시스템학회, 30(4): 182-189, 2007 

  5. Benson, E. D.; "Statistical Properties of a System of Fourth-Generation Process Capability Indices Cpsk(u, v, w)," Dissertation, Univ. of Maryland, 1994 

  6. Davis R. Bothe; "Composite Capability Index For Multiple Product Characteristics," Quality Engineering, 12(2) : 253-258, 1999-2000 

  7. Juran, J. M., Ed.; "Quality Control Handbook," 3rd Ed. Mcgraw-hill, New York, 1974 

  8. Kane, V. E; "Process Capability Indices," Journal of Quality Technology, 18(1) : 41-52 

  9. Pearn, W. L. etc.; "Distributional and Inferential Properties of Process Capability Indices," Journal of Quality Technology, 24(4) : 216-231, 1992 

  10. Robert D. Plante; "Process Capability : A Criterion for Optimizing Multiple Response Product and Process Design," IIE Transactions, 33 : 497-509, 2001 

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