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[국내논문] 역프리즘 쉬트의 휘도 향상 특성 분석 및 그 방법의 소개 원문보기

인포메이션 디스플레이 = Information display, v.10 no.6, 2009년, pp.26 - 33  

홍병희 (광운대학교 전자물리학과)

초록이 없습니다.

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문제 정의

  • 프리즘 쉬트에 대해서 광학 특성을 표현하기 위해서는 BRDF 외에도 BTDF도 정의를 해줘야 하는데 그러면 더욱더 복잡해진다. 그래서 본고에서는 이들보다 간단하면서도 매우 유용한 정보를 줄 수 있는 새로운 방법을 소개하고자 한다. 이 방법은 프리즘 쉬트의 광학 패턴의 대칭성을 고려하여 변수를 좀 단순화시킨 새로운 광 특성 함수를 이용한다.
  • 본고에서는 3R chart method의 응용 예로써, 노트북에 사용되는 일반 타입 백라이트와 고휘도 타입 백라트의 휘도 특성을 비교 분석하는 내용을 소개하였다. 이를 보면, 고휘도 타입 백라이트가 일반 타입보다 휘도가 높은 이유를 명확하게 이해할 수 있다.
  • 본고에서는 3R chart method의 적용 예로서 일반 프리즘 쉬트와 역프리즘 쉬트의 3R chart를 구한 후, 그에 대한 비교 분석을 하고자 한다. 다음의 [그림 8]은 일반 프리즘 쉬트의 3R chart이고, [그림 9]는 역프리즘 쉬트의 3R chart이다.
  • 휘선 및 암선 문제는 광원과 도광판 사이의 문제이고, 고휘도와 균일도 문제는 도광판과 역프리즘 쉬트 사이의 문제로서 역프리즘 쉬트의 광학 특성을 잘 이해한 후 그에 맞춰 도광판의 패턴을 설계하면 쉽게 해결할 수 있다. 본고에서는 역프리즘 쉬트의 광학 특성을 살펴보고자 하는데, 이 결과를 이용하면 고휘도와 균일도 문제 해결에 큰 도움을 받을 수 있을 것이다. 이러한 분석 과정에서, 역프리즘 쉬트와 일반 프리즘 쉬트와의 비교를 함께 하고자 하는데, 이를 위해서 새로 고안된 ‘3R chart method'라는 방법[1]도 함께 소개하고자 한다.
  • 출사광들의 각도 분포가 이렇게 되는 근본적인 이유는, 도광판으로부터의 출사광과 그 위에 얹혀지는 프리즘 쉬트와의 매칭 관계에 의해서 결정된다. 본고에서는 이러한 매칭 관계를 분석하는 방법에 대한 소개와 이를 이용하여 고휘도 타입이 일반 타입보다 휘도가 높은 이유를 분석하는 과정을 소개한다.
  • 본고에서 지칭하는 백라이트는 노트북용 LCD에 사용되는 백라이트에 한정된다. 우선 일반 타입 백라이트와 고휘도 타입 백라이트의 구성을 비교해보자. [그림 1]에 두 타입의 구성이 나와 있다.
  • 우선 휘도 향상 쉬트로 가장 널리 사용되고 있는 일반 프리즘 쉬트의 광학적 특성을 살펴보자. 이를 위해서 [그림 3]과 같은 2D 모델을 만들어 간단한 광학 시뮬레이션을 해보자.
  • 이러한 분석 과정에서, 역프리즘 쉬트와 일반 프리즘 쉬트와의 비교를 함께 하고자 하는데, 이를 위해서 새로 고안된 ‘3R chart method'라는 방법[1]도 함께 소개하고자 한다.

가설 설정

  • 따라서 프리즘 쉬트의 광변환 특성을 정의할 때 이 패턴에 수직인 방향으로 진행하는 빛만을 고려해도 무방하다. 또한 도광판의 옆면에서 입사한 빛들은 심하게 굴절되어, 도광판 내에서는 대부분의 광들이 입광면에 수직한 방향으로 진행하기 때문에 위의 가정은 상당한 타당성을 갖는다. 프리즘 쉬트에 입사하는 광들의 intensity를 S(θi)라 하고, 쉬트에서 출사한광들의 intensity를 Ioo)라 하자.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
고휘도 타입 백라이트의 장점은? 고휘도 타입 백라이트는 일반 타입 백라이트보다 적은 매수의 광학 쉬트를 사용하고도 휘도 값은 일반 타입보다 30% 이상이 높다. 그런데 도광판이 프리즘 쉬트의 기능을 일부 담당한다는 것만으로는 휘도 값이 높은 이유를 설명해주지는 못한다.
3R chart란? 3R chart는 광학 쉬트의 광학 패턴에 의해서 결정되는 쉬트의 고유한 특성이다. 어떤 광학 쉬트이든지 이 3R chart를 알고 있으며, 이 쉬트를 가장 효율적으로 사용하기 위해서는 광원의 출사광 각도 분포가 어떠해야 하는지를 판단할 수 있다.
도광판 또는 쉬트를 제조한 후 이들을 조립하여 그 광특성을 측정하는 과정을 되풀이하는 방법의 한계는? 고휘도 백라이트를 개발하는 방법으로, 도광판 또는 쉬트를 제조한 후 이들을 조립하여 그 광특성을 측정하는 과정을 되풀이하는 방법이 있다. 이 방법에서는 휘도 매칭이 최적화되었는지 여부는 알 수 없고, 조립과 측정을 반복하는 가운데 가장 휘도가 높은 조합이 발견되면 그것을 설계 스펙으로 확정해 버린다. 매우 원시적인 방법임에도 불구하고 실제로는 가장 많이 사용되는 방법이었다.
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참고문헌 (2)

  1. B. H. Hong, JSID에 paper 제출 중 

  2. J. Stover, "Optical Scattering, Measurement and Analysis" (SPIE Optical Engineering Press, 1995), p.16 

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