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[국내논문] 미세입자의 트라이볼로지적 응용을 위한 마찰특성 고찰
Study on the Frictional Characteristics of Micro-particles for Tribological Application 원문보기

윤활학회지 = Journal of the Korean Society of Tribologists and Lubrication Engineers, v.25 no.2, 2009년, pp.81 - 85  

성인하 (한남대학교 기계공학과) ,  한흥구 (한국과학기술연구원 에너지메카닉스 연구센터) ,  공호성 (한국과학기술연구원 에너지메카닉스 연구센터)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Interests in micro/nano-particles have been greatly increasing due to their wide applications in various fields such as environmental and medical sciences as well as engineering. In order to obtain a fundamental understanding of the tribological characteristics at particle-surface contact interface,...

주제어

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문제 정의

  • 본 연구에서는 이러한 미세입자의 기계-화학적 연마가공 등 다양한 트라이볼로지적 응용을 위하여 근원적인 이해가 요구되는 미세입자-표면간의 접촉 계면에서의 극미세스케일에서의 마찰현상에 초점을 두고 연구를 진행하였다.
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참고문헌 (22)

  1. Whitesides, G M. and Grzybowski, B., 'Self-assembly at all scales,' Science, Vol. 295, pp. 2418-2121, 2002 

  2. Terray, A., Oakey, J., and Marr D. W. M., 'Microfluidic Control Using Colloidal Devices,' Science, Vol. 296, pp. 1841-1844, 2002 

  3. Cook, L. M., 'Chemical processes in glass polishing,' J. Non-Cryst. Solids, Vol. 120, pp. 152-171, 1990 

  4. Mizes, H., Ott, M., Eklund, E., and Hays, D., 'Small particle adhesion: Measurement and control,' Colloids Surf. A, Vol. 165, pp. 11-23, 2000 

  5. Daniel, S., Chaudhury, M. K., and De Gennes, P.-G, 'Vibration-actuated drop motion on surfaces for batch microfluidic processes,' Langmuir, Vol. 21, pp. 

  6. Love J. C. et al., 'Self-Assembled Monolayers of Thiolates on Metals as a Form of Nanotechnology,' Chem. Rev., Vol. 105, pp. 1103-1170, 2005 

  7. Resch, R. et al., 'Manipulation of nanoparticles using dynamic force microscopy: simulation and experiments,' Appl. Phys. A, Vol. 67, pp. 265-271, 1998 

  8. Junno, T., Deppert, K., Montelius, L., and Samuelson, L., 'Controlled manipulation of nanoparticles with an atomic force microscope,' Appl. Phys. Lett., Vol. 66, pp. 3627-3629, 1995 

  9. Baur, C. et al., 'Nanoparticle manipulation by mechanical pushing: underlying phenomena and realtime monitoring,' Nanotechnology, Vol. 9, pp. 360-364, 1998 

  10. Resch, R. et al., 'Manipulation of gold nanoparticles in liquid environments using scanning force microscopy,' Ultramicroscopy. Vol. 82, pp. 135-139, 2000 

  11. J airath, R. et al., 'Consumables for the chemical mechanical polishing (CMP) of dielectrics and conductors,' Mat. Res. Soc. Symp. Proc., Vol. 337, pp. 

  12. Oliver, M. (Ed.), Chemical-Mechaηical Planarization of Semiconductor Materials, Chap. SpringerVerlag, Berlin, pp. 6-7, 2004 

  13. Stein, D. J., Hetherington, D. L., and Cecchi, J. L., 'Investigation of the Kinetics of Tungsten Chemical Mechanical Polishing in Potassium Iodate-Based Slurries: II. Roles of Colloid Species and Slurry Chemistry,' J Electrochem. Soc., Vol. 146, pp. 1934-1938, 1999 

  14. Laursen, T, and Grief, M., 'Characterization and optimization of copper chemical mechanical planarization,' J Electron. Mater., Vol. 31, pp. 1059-1065, 2002 

  15. Sader, J. E., Chon, J. W. M., Mulvaney, P. , 'Calibration of rectangular atomic force microscope cantilevers', Rev. Sci. Instrum., Vol. 70, pp. 3967-3969, 1999 

  16. Green, C. P. et al., 'Normal and torsional spring constants of atomic force microscope cantilevers', Rev. Sci. Instrum., Vol. 75, pp. 1988-1996, 1995 

  17. Ogletree, D. F., Carpick, R. w., Sa1meron, M., 'Calibration of frictional forces in atomic force microscopy', Rev. Sci. Instrum., Vol. 67, pp. 3298-3306, 1996 

  18. Morita, S., Fujisawa, S., Sugawara, Y., 'Spatially quantized friction with a lattice periodicity', Surf Sci. Rep. Vol. 23, pp. 1-41 , 1996 

  19. F내 isawa, S., Kishi, E., Sugawara, Y., Morita, S., 'Two-dimensionally discrete friction on the NaF(lOO) surface with the lattice periodicity', Nanotechnol., Vol. 5, pp. 8-11, 1994 

  20. Germann, G. J. et al., 'Atomic scale friction of a diamond tip on diamond (100) and (111) surfaces' J Appl. Phys., Vol. 73, pp. 163-167, 1993 

  21. Holscher, H., Schwarz, U. D., Wiesendanger, R., 'Modeling of the scan process in lateral force microscopy', Surf Sci., Vol. 375, pp. 395-402, 1997 

  22. Socoliuc, A., Bennewitz, R., Gnecco, E., Meyer E., 'Transition from stick-slip to continuous sliding in atomic friction: entering a new regime of ultralow friction', Phys. Rev. Lett., Vol. 92, Art. No.134301, 2004 

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