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Sn/Cu 도금액의 보충이 도금제품의 도금피막특성에 미치는 영향
The Supplement of Sn/Cu, Plating Solution Affects in Plating Skim Quality of the Plating Product 원문보기

한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.26 no.7 = no.220, 2009년, pp.112 - 119  

전택종 (충남대학교 대학원 기계공학과) ,  고준빈 (한밭대학교 기계설계공학과) ,  이동주 (충남대학교 대학원 기계공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The purpose of this study is to evaluate the evaluation of process yield performed by using Sn & Cu treatment on the surface to optimize process condition for Lead-free solder application. The materials which are used for the New Surface Treatment study are Semi-Dulling plating for high speed Sn/Cu ...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 이에 본 연구는 환경규제 물질인 납을 함유하지 않고 동등한 신뢰성을 가질 수 있는 Pb free 고속 Sn/Cu 합금 반광택 도금액에 연속도금에서 발생되어지는 도금액 부족에 따른 도금액 보충이 제품에 미치는 도금 피막 특성을 파악하기 위하여 Sn/Cu 합금 반광택 도금액을 이용하여, 부품의 단자면에 도금되는 작업성과 무연제 품에서 요구되는 도금두께와 동 (Cu) 조성이 Sn/Pb 솔더 합금의 특성과 동등한 솔더 접합성과 신뢰성을 확보하고, 무연도금에서 발생될 수 있는휘스커(Whisker)를 방지할 수 있는 동조성 2±1%과부품의 단자도금에서 요구되는 도금두께 규격 12土 3um 이 Sn/Pb 솔더 합금의 특성 과 동등함은 이미 밝혀진 이론이다. 이에 Sn/Cu 합금 반광택 도금액이 Sn/Pb 솔더합금 도금액과 동등한 젖음성(Wettability)과 퍼짐성(Spreadability)등 신뢰성을 확보하고, 휘스커(Whisker)발생을 방지할 수 있는 도금규격인 도금두께 12±3um 과 동조성 2±1%가 도금액 보충 전후의 도금제품의 피막특성을 관찰하여 도금두께의 변화와 동조성의 변화를 고찰함으로써 Sn/Cu 합금 반광택 도금액을 보충하면서 발생 되어지는 도금두께의 편차와 동조성의 편차가 도금 피막특성에 미치는 영향을 고찰하고, 도금액보충 전후의 단자외관상태의 변화를 알아보고자 하였다.
  •  따라서 납을 사용하지 않는 재료를 이용하여 종래에 사용되어온 주석(Sn) 과 납(Pb) 합금의 대체물질인 주석과 구리(Cu)의 무연합금에 대한 신표면처리의 적용 가능 여부에 대한 구명이 필요한 실정이다. 이에 본 연구는 환경규제 물질인 납을 함유하지 않고 동등한 신뢰성을 가질 수 있는 Pb free 고속 Sn/Cu 합금 반광택 도금액에 연속도금에서 발생되어지는 도금액 부족에 따른 도금액 보충이 제품에 미치는 도금 피막 특성을 파악하기 위하여 Sn/Cu 합금 반광택 도금액을 이용하여, 부품의 단자면에 도금되는 작업성과 무연제 품에서 요구되는 도금두께와 동 (Cu) 조성이 Sn/Pb 솔더 합금의 특성과 동등한 솔더 접합성과 신뢰성을 확보하고, 무연도금에서 발생될 수 있는휘스커(Whisker)를 방지할 수 있는 동조성 2±1%과부품의 단자도금에서 요구되는 도금두께 규격 12土 3um 이 Sn/Pb 솔더 합금의 특성 과 동등함은 이미 밝혀진 이론이다. 이에 Sn/Cu 합금 반광택 도금액이 Sn/Pb 솔더합금 도금액과 동등한 젖음성(Wettability)과 퍼짐성(Spreadability)등 신뢰성을 확보하고, 휘스커(Whisker)발생을 방지할 수 있는 도금규격인 도금두께 12±3um 과 동조성 2±1%가 도금액 보충 전후의 도금제품의 피막특성을 관찰하여 도금두께의 변화와 동조성의 변화를 고찰함으로써 Sn/Cu 합금 반광택 도금액을 보충하면서 발생 되어지는 도금두께의 편차와 동조성의 편차가 도금 피막특성에 미치는 영향을 고찰하고, 도금액보충 전후의 단자외관상태의 변화를 알아보고자 하였다.
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참고문헌 (4)

  1. Kim, Y. K. and Jeong, H. D., "Eco-process in a Semiconductor Manufacturing Process," Journal of the Korean Society of Precision Engineering, Vol. 18, No. 9, pp. 25-30. 2001 

  2. Won, K. G., "Plating solution analysis method," Dongmyongsa, p. 144, 1989 

  3. Lau, J. H., "Solder joint reliability," Van Nostrand Reinhold, pp. 406-449, 1991 

  4. Sunwoo, A. J., Morris, J. W. and Lucey, G. K., "The growth of Sn-Cu inter-metallics at a pre-tinned copper/solder interface," Metallurgical and MaterialsTransactions A, Vol. 23, No. 4, pp. 1323-1332., 1992 

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