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기가 스케일 SoC를 위한 통합 설계 방법론 및 검증 플랫폼
Unified Design Methodology and Verification Platform for Giga-scale System on Chip 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, v.47 no.2=no.392, 2010년, pp.106 - 114  

김정훈 (로스엔젤레스 캘리포니아 주립대학교 컴퓨터과학과)

초록
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본 논문은 기가 스케일 System on Chip(SoC)를 위한 통합 설계 및 검증 플랫폼을 제안한다. VLSI 집적도의 발달로 그 복잡도가 증가하여 기존의 RTL 설계 방식으로는 그 생산성 차이(Production Gap)를 극복할 수 없게 되었다. 또한, 검증 차이(Verification Gap)의 증가로 검증 방법론에도 커다란 변혁이 필요하게 되었다. 본 플랫폼은 기존의 상위 수준 합성을 포함하며, 그 결과물을 이용하여 저 전력 설계의 전원 인식 검증 플랫폼과 검증 자동화를 개발하였다. 상위 수준 합성 시 사용되는 Control and Data Row Graph (CDFG)와 고 입력인 상위 수준 언어와 RTL를 기반으로 한 검증 플랫폼 자동화와 전원 인식 검증 방법론을 개발하였다. 검증 플랫폼에는 자동 검사 기능을 포함하고 있으며 Coverage Driven Verification을 채택하고 있다. 특히 전원 인식 검증을 위하여 개발된 조건 랜덤 벡터 생성 알고리듬을 사용하여 랜덤 벡터의 개수를 최소 5.75배 감소시키는 효과를 가져왔고, 전원과 전원 셀에 대한 모델링 기법을 이용하여 일반적인 로직 시뮬레이터 툴을 통해서도 전원 인식 검증을 가능하게 하였다. 이러한 통합된 설계 및 검증 플랫폼은 시스템 수준의 설계에서 검증, 합성에 이르는 전 설계 흐름을 완전 자동화 하여 상위 수준의 설계와 검증을 가능하게 하고 있다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

We proposed an unified design methodology and verification platform for giga-scale System on Chip (SoC). According to the growth of VLSI integration, the existing RTL design methodology has a limitation of a production gap because a design complexity increases. A verification methodology need an evo...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 설계 및 검증 자동화와 저 전력 설계를 위한 검증 방법론 등을 포함하는 통합 설계 방법론및 검증 플랫폼을 제안 및 개발하였다. VLSI의 저 전력설계의 검증을 위하여 스펙을 근거로 하여 해당하는 입력을 발견적 방법에 따라 작성하게 된다.
  • 시스템 수준 언어인 C/C++를 입력으로 받아 상위 수준 합성 과정를 거쳐 검증 자동화, 전원 모델을 통한 시스템 검증을 가능하게 하고 있다. 본 플랫폼에서는 로직 합성을위한 기본 스크립트를 생성하여 시스템 레벨에서 로직레벨에 이르는 통합 설계 방법론을 제시하고 있다. 다음에서는 각각의 과정에서 이루어지는 내용에 대해 자세히 기술하도록 하겠다.
  • 이러한 랜덤 벡터의 조건 들이 어떠한 효과가 있는지 살펴보도록 하겠다. 가능한 입력의 모든 경우를 r 회, 주어진 조건 Cq이 만족하는 경우를 甩회, C當를만족하는 경우를 花회, 이 만족하는 경우를 沼회, 각각의 조건에 대한 확률을 rPm과「P花, rPre 라고 할때 필요한 벡터가 생성될 확률은 다음의 식(3)과 같이나타낼 수 있다.
  • 가능하다. 이러한 조건의 랜덤 벡터 생성기의 조건 성분(Constraint)로 추가 되어 효율적인 랜덤 벡터입력을 발생하는 것을 가능하게 하여 준다. 다음 그림 9는 추출된 조건 Cq과 Cc2, CC3을 랜덤 벡터 발생기에추가된 예제 파일이다.

가설 설정

  • 6. The concept of power model.
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참고문헌 (16)

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  4. 김남섭, 조원경, '임베디드 프로세서와 재구성 가능한 구조를 이용한 SoC 테스트와 검증의 통합,' 대한전자공학논문지, 제43권 SD편 제7호, pp. 38-49 2006년. 7월 

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  6. D. Chen, J. Cong, Y. Fan and J. Xu, 'Optimality Study of Resource Binding with Multi-Vdds,' Proceedings of the Design Automation Conference, pp. 580-585 ,San Francisco, CA, USA, July 2006 

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