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백색광 위상천이 간섭계를 위한 개선된 삼차원 형상 측정 방법
Improved 3D Shape Measurement Scheme for White Light Phase Shifting Interferometry 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SP, 신호처리, v.47 no.2=no.332, 2010년, pp.51 - 60  

김경일 (LIG넥스원 전자광학연구센터) ,  이동열 (충남대학교 메카트로닉스공학과) ,  고윤호 (충남대학교 메카트로닉스공학과)

초록
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본 논문에서는 백색광 위상천이 간섭계에서 향상된 3차원 형상 정보를 보다 빠르게 얻을 수 있는 새로운 방법을 제안한다. 백색광 위상천이 간섭계는 초정밀 제품의 형상 측정에 사용되는 유용한 방법이다. 첫째, 가시도 함수를 포함하는 간섭신호로부터 3차원 높이 정보를 신속하게 계산할 수 있는 가시도 유효 검출 구간 설정 방법을 제안한다. 둘째, 기존의 백색광 위상천이 간섭계에서 발생하는 전역 기울어짐 현상을 해결하기 위하여 바닥면 데이터 자동 추출 방법과 이를 이용한 최소 제곱 근사화 기반의 바닥 평변 추정 방법을 제안한다. 셋째, 높이의 변화가 큰 경계영역에서의 형상 왜곡인 bat-wing effect를 제거하기 위한 적응 필터 방법을 제안한다. 실험을 통해 제안하는 방법이 기존의 백색광 위상천이 간섭법의 성능을 보다 향상시킴을 보인다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper proposes a new scheme to obtain enhanced 3D shape information rapidly for WLPSI(White Light Phase Shifting Interferometry). WLPSI is a convenient method to measure the height of the micro products. First we propose an effective method of limiting search interval for detecting the peak of ...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 백색광 위상천이 간섭계에서 향상된 3 차원 형상 정보를 보다 빠르게 얻을 수 있는 방법을 제안하였다. 먼저 가시도 검출을 위한 M0C 방법에 유효검줄 구간을 설정하여 연산량을 줄여 고속 측정을 가능하게 하였다.
  • 본 논문에서는 백색광 위상천이 간섭법의 성능을 개선하기 위해서 가시도 추정과 후처리 단계에 대한 새로운 방법을 제시한다. 백색광 위상천이 간섭법은 가시 도를 추출하는 과정에서 많은 연산량을 필요로 하고 전기적 노이즈 및 외부 진동 등으로 인하여 전역 기울어짐 현상과 서브 나노미터 내의 오차를 가지게 된다.
  • 특히 높이의 변화가 큰 경계영역에는 bat-wing effect"와 같은 형상 왜곡이 발생한다. 본 논문에서는 이러한 문제점들을 극복하기 위해 먼저 가시도 검출 단계에서는 가시도 유효 검출 구간을 설정하는 방법으로 기존의 백색광 위상천이 간섭계의 처리 속도를 개선하는 방안을 제안한다. 또한 영상처리 기반의 보정 방법으로 전역 기울어짐과 bat-wing effect를 제거하여 향상된 3차원 형상을 얻을 수 있는 방법을 제안한다.

가설 설정

  • 1. Concept of WLPSI.
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참고문헌 (10)

  1. J. Schwider, R. Burow, J. Grzanna, R. Spolaczyk, and K. Merkel, "Digital Wave Front Measuring Interferometry : Some Systematic Error Suorces," Appl. Opt. 22, 3421-3432, 1983. 

  2. J. Schwider, "Phase Shifting Interferometry : Reference Phase Error Reduction," Appl. Opt. 28, pp. 3889-3892, 1989. 

  3. K.G. Larkin, "Effective nonlinear algorithm for envelope detection in white light interferometry," J. Opt. Soc. Am. A. 4, 1996. 

  4. Jonna Schmit and Artur Olszak, "High-Precision Shape Measurement by White-Light Interferometry with Real-Time Scanner Error Correction," Appl. Opt, Vol. 41, No. 28, October 2002. 

  5. P. Sandoz, "An algorithm for profilometry by white-light phase-shifting interferometry." J. Mod. Opt. 43, 1996. 

  6. P. Sandoz, R. Devillers, and A. Plata, "Unambiguous profilometry by fringe-order identification in white-light phase-shifting interferometry," J. Mod. Opt. 44, 1997. 

  7. Akiko Harasaki, Joanna Schmit, and James C. Wyant, "Improved vertical-scanning interferometry," Appl. Opt. Vol. 39, No. 13, May 2000. 

  8. G. B. Henning, "Masking effects of low-frequency sinusoidal gratings on the detection of contrast modulation in high-frequency carriers," Opt. Soc. Am. Vol. 21, No. 4, 2004. 

  9. 안우정, "백색광 위상천이 간섭계에서의 위상 오차의 수치해석 보정," 서울대학교 대학원 박사학위논문, 2005. 

  10. J. Douglas Faires and Richard Burden, "Numerical Methods," Brooks/Cole Publishing Company, pp. 323-365, 1998. 

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