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NTIS 바로가기韓國電磁波學會論文誌 = The journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science, v.21 no.7=no.158, 2010년, pp.831 - 841
하정래 (성균관대학교 정보통신공학과) , 김종민 (성균관대학교 정보통신공학과) , 김병기 (성균관대학교 정보통신공학과) , 이준상 (성균관대학교 정보통신공학과) , 배현주 (성균관대학교 정보통신공학과) , 김정엽 (한국기계연구원) , 이학주 (한국기계연구원) , 나완수 (성균관대학교 정보통신공학과)
The conventional vertical probe has the thin and long signal path that makes transfer characteristic of probe worse because of the S-shaped structure. So we propose the new vertical probe structure that has branch springs in the S-shaped probe. It makes closed loop when the probe mechanically connec...
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B. Leslie, F. Matta, "Wafer-level testing with a membrane probe", IEEE Design & Test of Computers, vol. 6, pp. 10-17, Feb. 1989.
H. Johnson, M. Graham, High-Speed Signalpropagation, Prentice Hall, 2003.
Jung Yup Kim, Hak Joo Lee, and Young-Ho Cho, "Anti-buckling vertical microprobes with branch springs", Microelectronic Engineering, in press, 2009.
Ansoft, HFSS 100 Tips.
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