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전자제품용 컴프레서의 가속열화시험에 관한 연구
An Accelerated Degradation Test of a Electronics Appliance Compressor 원문보기

신뢰성응용연구 = Journal of the applied reliability, v.10 no.1 = no.29, 2010년, pp.25 - 38  

이후진 (LG전자) ,  윤원영 (부산대학교)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, an accelerated degradation test procedure for an electronic appliance compressor is proposed. We investigate the amount of wear of the compressor and consider several factors as accelerating factors. Finally we select the operating pressure as a main accelerating factor. The test cond...

주제어

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문제 정의

  • 가속 인자별 시험을 실시하고, 그 결과를 기존 가속조건과 변경 가속조건에서의 마모모형을 예측하여 가속시험을 최소화할 수 있는 최적의 가속시험 조건을 도출하고자 한다 참조.
  • 컴프레서의 개발에 있어서 신뢰성 평가는 가장 중요한 활동이고 절차이며, 컴프레서 개발기간의 가장 큰 부분을 차지한다. 본 논문에서는 냉장고용 컴프레서의 개발과정에서 필수적인 가속시험의 기간단축을 위해 가속 열화시험 방법에 대해 알아보고, 적절한 가속시험 방법을 도출하여 현장에 적용 가능한 가속 시험법을 제시하는데 그 목적이 있다.
  • 더욱이 고객의 요구사항에 맞는 새로운 제품의 출시 시기가 기업의 경영 성과를 좌우하는 현실에서 보다 빠르게 품질확보를 이룬다면 그만큼 앞서 갈 수 있는 기회를 잡는 것이다. 본 논문에서는 컴프레서의 가속 시험 기간을 단축시키기 위해 가속 시험법을 설계하고 분석하는 과정을 구체적으로 제시하였다. 컴프레서의 가속 시험법의 설계, 분석을 통해 다음과 같은 결론을 얻을 수 있었다.
  • 본 연구는 전자제품의 수명에 중요한 영향을 가진 컴프레서(Compressor)의 신뢰성평가와 관련된 연구이다. 컴프레서의 개발에 있어서 신뢰성 평가는 가장 중요한 활동이고 절차이며, 컴프레서 개발기간의 가장 큰 부분을 차지한다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
빠른 시간 내에 제품의 신뢰성을 확인할 수 있는 가속시험의 필요성이 날로 증가하고 있는 이유는 무엇인가? 기업에서는 설계 인정 또는 양산 제품의 신뢰성 보증을 위한 신뢰성 시험을 하고 있다. 한편, 높은 신뢰성을 갖는 제품의 신뢰성 시험에는 오랜 기간과 많은 비용이 소요될 뿐만 아니라 짧아진 제품 개발기간 내에 완료하기도 어렵다. 따라서 빠른 시간 내에 제품의 신뢰성을 확인할 수 있는 가속시험(Accelerated Testing)의 필요성이 날로 증가하고 있다.
가속수명 시험은 주로 어디에 적용되는가? 가속시험은 시험대상, 목적 및 방법에 따라서 가속수명시험(ALT:Accelerated Life Test)과 가속열화시험(Accelerated Degradation Test), 가속스트레스시험(AST:Accelerated Stress Test)으로 구분할 수 있다. 가속수명 시험은 주로 부품에 적용되며, 실제 사용 조건보다 높은 스트레스 수준에서 관측된 수명 데이터들을 수명분포(대수정규 분포, 와이블 분포 등)와 수명-스트레스 관계(아레니우스, 역거듭제곱, 아이링 등)를 이용하여 분석하고, 이로부터 사용조건에서의 수명을 추정한다 배도선과 전영록(1999), LG전자 품질센터 신뢰성팀(1998), LG전자 품질센터 신뢰성팀(2000), 이기화와 윤원영(2009), 정해성 외(2000). 가속열화시험은고장이 잘 발생되지 않는 고신뢰도 제품의 신뢰성을 확인하고 보증하는데 유용하게 사용되며, 정상 사용조건보다 높은 스트레스 조건하에서 성능 특성이 시간에 따라 열화되는 정도, 즉 열화량을 측정하여 시간에 따른 열화량 변화에 대한 모형을 추정하고, 추정된 모형으로부터 정상조건에서의 수명을 추정한다 이낙영(1995), 천성일 외(1999), 최규명과 이낙영(1986), MIL-HDBK-338-B(1998), Lu and Meeker(1993), Lu et al(1996), Nelson(1990).
가속시험은 시험대상, 목적 및 방법에 따라 어떻게 구분하는가? 가속시험은 시험대상, 목적 및 방법에 따라서 가속수명시험(ALT:Accelerated Life Test)과 가속열화시험(Accelerated Degradation Test), 가속스트레스시험(AST:Accelerated Stress Test)으로 구분할 수 있다. 가속수명 시험은 주로 부품에 적용되며, 실제 사용 조건보다 높은 스트레스 수준에서 관측된 수명 데이터들을 수명분포(대수정규 분포, 와이블 분포 등)와 수명-스트레스 관계(아레니우스, 역거듭제곱, 아이링 등)를 이용하여 분석하고, 이로부터 사용조건에서의 수명을 추정한다 배도선과 전영록(1999), LG전자 품질센터 신뢰성팀(1998), LG전자 품질센터 신뢰성팀(2000), 이기화와 윤원영(2009), 정해성 외(2000).
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참고문헌 (13)

  1. 배도선, 전영록(1999), 신뢰성 분석 (대우학술 총서 논저 449), 아르케. 

  2. 박성현(1992), "회귀분석", 민영사 

  3. LG전자 품질센터 신뢰성팀(1998), "신뢰성 기술 세미나 보고서-가속모형과 그 응용", LG 전자. 

  4. LG전자 품질센터 신뢰성팀(2000), "신뢰성 기술 세미나 보고서-가속시험 개발 동향과 그 응용", LG 전자. 

  5. 이기화, 윤원영(2009), 청소기모터의 가속수명시험설계 신뢰성응용연구. 

  6. 이낙영(1995), "Optimum Design of Accelerated Degradation Tests for Lognormal Distribution," 품질경영학회지, 23권 1호, pp.29-40. 

  7. 정해성, 박동호, 김재주(2000), "신뢰성 분석과 응용", 영지문화사. 

  8. 천성일, 송병석, 이관훈(1999), "후막칩 저항기의 가속수명시험", 대한설비관리학회지, 4권 3호, pp.93-101. 

  9. 최규명, 이낙영(1996), "Optimum Design of Accelerated Degradation Tests for Weibull Distribution," 품질경영학회지, 24권 3호, pp.37-49 

  10. MIL-HDBK-338-B(1998), Electronic Reliability Design Handbook, Department of Defence. 

  11. Lu, C.J. and Meeker, W.Q(1993)., "Using Degradation Measures to Estimate a Time-to-Failure Distribution," Technometrics, Vol. 35, No. 2, pp.161-174. 

  12. Lu, C.J., Meeker, W.Q. and Escobar, L.A(1996)., "A Comparison of Degradation and Failure-Time Analysis Methods of Estimating a Time-to-Failure Distribution," Statistical Sinica, Vol. 6, No. 2, pp.89-99. 

  13. Nelson, W.(1990), Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses, John Wiley & Sons. 

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