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NTIS 바로가기신뢰성응용연구 = Journal of the applied reliability, v.10 no.1 = no.29, 2010년, pp.25 - 38
In this paper, an accelerated degradation test procedure for an electronic appliance compressor is proposed. We investigate the amount of wear of the compressor and consider several factors as accelerating factors. Finally we select the operating pressure as a main accelerating factor. The test cond...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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빠른 시간 내에 제품의 신뢰성을 확인할 수 있는 가속시험의 필요성이 날로 증가하고 있는 이유는 무엇인가? | 기업에서는 설계 인정 또는 양산 제품의 신뢰성 보증을 위한 신뢰성 시험을 하고 있다. 한편, 높은 신뢰성을 갖는 제품의 신뢰성 시험에는 오랜 기간과 많은 비용이 소요될 뿐만 아니라 짧아진 제품 개발기간 내에 완료하기도 어렵다. 따라서 빠른 시간 내에 제품의 신뢰성을 확인할 수 있는 가속시험(Accelerated Testing)의 필요성이 날로 증가하고 있다. | |
가속수명 시험은 주로 어디에 적용되는가? | 가속시험은 시험대상, 목적 및 방법에 따라서 가속수명시험(ALT:Accelerated Life Test)과 가속열화시험(Accelerated Degradation Test), 가속스트레스시험(AST:Accelerated Stress Test)으로 구분할 수 있다. 가속수명 시험은 주로 부품에 적용되며, 실제 사용 조건보다 높은 스트레스 수준에서 관측된 수명 데이터들을 수명분포(대수정규 분포, 와이블 분포 등)와 수명-스트레스 관계(아레니우스, 역거듭제곱, 아이링 등)를 이용하여 분석하고, 이로부터 사용조건에서의 수명을 추정한다 배도선과 전영록(1999), LG전자 품질센터 신뢰성팀(1998), LG전자 품질센터 신뢰성팀(2000), 이기화와 윤원영(2009), 정해성 외(2000). 가속열화시험은고장이 잘 발생되지 않는 고신뢰도 제품의 신뢰성을 확인하고 보증하는데 유용하게 사용되며, 정상 사용조건보다 높은 스트레스 조건하에서 성능 특성이 시간에 따라 열화되는 정도, 즉 열화량을 측정하여 시간에 따른 열화량 변화에 대한 모형을 추정하고, 추정된 모형으로부터 정상조건에서의 수명을 추정한다 이낙영(1995), 천성일 외(1999), 최규명과 이낙영(1986), MIL-HDBK-338-B(1998), Lu and Meeker(1993), Lu et al(1996), Nelson(1990). | |
가속시험은 시험대상, 목적 및 방법에 따라 어떻게 구분하는가? | 가속시험은 시험대상, 목적 및 방법에 따라서 가속수명시험(ALT:Accelerated Life Test)과 가속열화시험(Accelerated Degradation Test), 가속스트레스시험(AST:Accelerated Stress Test)으로 구분할 수 있다. 가속수명 시험은 주로 부품에 적용되며, 실제 사용 조건보다 높은 스트레스 수준에서 관측된 수명 데이터들을 수명분포(대수정규 분포, 와이블 분포 등)와 수명-스트레스 관계(아레니우스, 역거듭제곱, 아이링 등)를 이용하여 분석하고, 이로부터 사용조건에서의 수명을 추정한다 배도선과 전영록(1999), LG전자 품질센터 신뢰성팀(1998), LG전자 품질센터 신뢰성팀(2000), 이기화와 윤원영(2009), 정해성 외(2000). |
배도선, 전영록(1999), 신뢰성 분석 (대우학술 총서 논저 449), 아르케.
박성현(1992), "회귀분석", 민영사
LG전자 품질센터 신뢰성팀(1998), "신뢰성 기술 세미나 보고서-가속모형과 그 응용", LG 전자.
LG전자 품질센터 신뢰성팀(2000), "신뢰성 기술 세미나 보고서-가속시험 개발 동향과 그 응용", LG 전자.
이기화, 윤원영(2009), 청소기모터의 가속수명시험설계 신뢰성응용연구.
정해성, 박동호, 김재주(2000), "신뢰성 분석과 응용", 영지문화사.
천성일, 송병석, 이관훈(1999), "후막칩 저항기의 가속수명시험", 대한설비관리학회지, 4권 3호, pp.93-101.
MIL-HDBK-338-B(1998), Electronic Reliability Design Handbook, Department of Defence.
Lu, C.J. and Meeker, W.Q(1993)., "Using Degradation Measures to Estimate a Time-to-Failure Distribution," Technometrics, Vol. 35, No. 2, pp.161-174.
Lu, C.J., Meeker, W.Q. and Escobar, L.A(1996)., "A Comparison of Degradation and Failure-Time Analysis Methods of Estimating a Time-to-Failure Distribution," Statistical Sinica, Vol. 6, No. 2, pp.89-99.
Nelson, W.(1990), Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses, John Wiley & Sons.
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