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LCD 제조용 러빙포 물성에 따른 러빙된 폴리이미드 배향막의 특성 및 러빙효과 분석
Analysis of Properties of Rubbed Polyimide Alignment Layer and Rubbing Effect of Various Rubbing Cloths for LCD Fabrication 원문보기

폴리머 = Polymer (Korea), v.35 no.5, 2011년, pp.385 - 389  

안홍준 (경희대학교 화학공학과) ,  이장주 (경희대학교 화학공학과) ,  안종수 ((주)영도벨벳) ,  박경철 ((주)영도벨벳) ,  노재규 ((주)하이퍼플렉스) ,  유동연 ((주)하이퍼플렉스) ,  백상현 (경희대학교 화학공학과)

초록
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러빙공정에서는 러빙 시 공정변수와 배향막의 특성 그리고 러빙포의 물성이 중요한 변수로 작용한다. 이러한 변수들은 러빙밀도(rubbing density)와 러빙력(rubbing force)에 의해서 결정되는 러빙된 정도(크기)를 통하여 배향막의 배향성에 영향을 미치게 된다. 본 연구에서는 러빙 변수 중 러빙포의 물성이 러빙밀도(길이)와 러빙력에 미치는 영향에 대하여 알아보기 위하여 다른 물성(파일 밀도, 강직도)을 가지는 러빙포를 이용하여 러빙효과(정도)를 분석하였다. 러빙포의 파일 밀도가 커지고 강직도가 강할수록 러빙된 배향막의 이방성과 표면조도가 커졌으나 러빙효과의 형태는 서로 달랐다. 러빙포의 파일밀도는 러빙에 관여하는 파일의 수와 밀접한 관련이 되어 있어 러빙하는 밀도(길이) 영향을 미치지만 강직도는 러빙밀도(길이)보다는 러빙력과 보다 밀접하게 관련성이 있었다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

In rubbing process, process factors, the properties of alignment layer and the physical properties of rubbing cloth have acted as important variables. These factors affect the orientation properties of the alignment layer by rubbed extent that is determined by rubbing density and rubbing force. In t...

주제어

#rubbing cloth   #alignment layer   #pile density   #birefringence   #rubbing effect  

참고문헌 (9)

  1. S. H. Paek, J. Ind. Eng., 7, 316 (2001). 

  2. K. Takatoh, M. Hasegawa, M. Koden, N. Itoh, R. Hasegawa, and M. Sakamoto, "Alignment technologies and applications of liquid crystal devices", in Liquid Crystals, G. W. Gray, J. W. Goodby, and A. Fukuda, Editors, Taylor & Francis, New York, pp 7-54 (2005). 

  3. G. P. Sinha, B. Wen, and C. Rosenblatt, Appl. Phys. Lett., 79, 2543 (2001). 

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  4. D. S. Seo, S. Kobayashi, and M. Nishikawa, Appl. Phys. Lett., 61, 2392 (1992). 

  5. B. S. Ban and Y. B. Kim, Appl. Phys. Chem. B, 103, 3869 (1999). 

  6. M. Yamahara, M. Nakamura, N. Koide, and T. Sasaki, Liq. Cryst., 34, 381 (2007). 

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  7. Y. B. Kim, H. Olin, S. Y. Park, J. W. Choi, L. Komitov, M. Matuszczyk, and S. T. Lagerwall, Appl. Phys. Lett., 66, 2218 (1995). 

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  8. T. Uchida, M. Hirano, and H. Sakai, Liq. Cryst., 5, 1127 (1989). 

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  9. N. A. J. M. van Aerle, M. Barmentlo, and R. W. J. Hollering, J. Appl. Phys., 74, 3111 (1993). 

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