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NTIS 바로가기한국광학회지 = Korean journal of optics and photonics, v.22 no.1, 2011년, pp.16 - 22
송세용 (한남대학교 광.전자물리학과) , 조재흥 (한남대학교 광.전자물리학과) , 홍성목 (한국표준과학연구원 우주광학센터) , 이회윤 (한국표준과학연구원 우주광학센터) , 이윤우 (한국표준과학연구원 우주광학센터)
We fabricate a measuring system to measure the modulation transfer function (MTF) of a mid-infrared imaging silicon lens by using the knife-edge scanning technique. In particular, we measure on-axial tangential MTF of the silicon lens with the focal length of 50 mm and F-number F/4 in the wavelength...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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직접주사방식의 장단점은? | 직접주사방식은 여러 가지 공간주파수를 가지는 주기적인 격자의 상을 슬릿에 의해 주사하여 상의 변조값을 물체의 변조값으로 나눠서 MTF를 얻는 방법이다.[6] 이 방법은 비교적 측정 시간이 짧은 것이 장점이지만, 정확도가 낮고 측정할 수 있는 공간주파수가 한정되는 것이 단점이다. 이에 반하여 간접주사방식은 핀홀이나 슬릿의 상을 슬릿, 칼날, 혹은 CCD(charge coupled device) 영상검출기나 CMOS(complementary metal oxide semiconductor) 영상검출기에 의해 주사한 후, 이를 푸리에 변환하여 MTF를 얻는 방법이다. | |
적외선 MTF 측정장치의 측정 방식은? | 중적외선 결상용 실리콘 렌즈의 변조전달함수(MTF)를 칼날 주사방식으로 측정하는 적외선 MTF 측정장치를 구성하였다. 이를 위하여 반달형 칼날 물체를 사용하여 초점거리 50 mm, F/4인 실리콘 렌즈에 대한 중적외선 파장대인 $3{\sim}5\;{\mu}m$에서의 축상 자오 방향에 대한 MTF를 측정하였다. | |
상을 주사하는 주사방식은 어떻게 나뉘어 지는가? | 이 중에서 현재까지 많이 사용되고 있는 방법으로는 간섭계를 이용하는 간섭계 방식과 광학계에 의해 맺혀진 상을 주사하는 주사방식이 널리 사용되고 있다.[5] 특히 상을 주사하는 주사방식으로는 직접주사방식(direct scanning method)과 간접주사방식(indirect scanning method)으로 크게 나뉘어져 있다. 직접주사방식은 여러 가지 공간주파수를 가지는 주기적인 격자의 상을 슬릿에 의해 주사하여 상의 변조값을 물체의 변조값으로 나눠서 MTF를 얻는 방법이다. |
I. W. Lee, Y. W. Lee, H. M. Cho, J. W. Han, H. Y. Lee, J. H. Lee, S. N. Park, B. H. Jeon, J. B. Song, D. J. Shin, S. G. Yun, Y. S. Yu, C. W. Park, H. S. Lee, J. Y. Lee, and B. C. Park, “Development of evaluation technology for precision optical system,” KRISS/IR-2001-091, KRISS, Daejeon (2001).
S. M. Hong, Ph. D. Thesis, “Modulation transfer function measurement for imaging optics systems by using square objects and its applications,” Daejeon (2009), pp. 9-30.
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H. M. Cho, Y. W. Lee, J. B. Song, H. Y. Lee, J. H. Lee, I. W, Lee, and T, H. Park, “Image evaluation of optical systems,” KRISS-98-104-MO, KRISS, Daejeon (1998).
H. M. Cho, Y. W. Lee, I. W. Lee, S. T. Lee, and J. U. Lee, “Modulation transfer function measurement of a linear charge coupled device imager by using a knife-edge scanner,” Hankook Kwanghak Hoeji 6, 173-177 (1995).
D. Malacara, Optical Shop Testing, 3rd ed. (A John Wiley & Sons, Inc., New York, USA, 2007), Chapter 14.
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G. C. Holst, Testing and Evaluation of Infrared Imaging Systems, 2nd ed. (SPIE Press, Bellingham, USA, 1998), Chapter 8.
G. D. Boreman, Modulation Transfer Function in Optical and Electro-optical Systems (SPIE Press, Washington, USA, 2001), Chapter 2.
C. J. Hutchinson, J. P. Jennings, C. Lewis, and G. N. Turner, “An automated MTF measurement system for use in the 8~12 ${\mu}m$ spectral region,” J. Phys. E 14, 846-850 (1981).
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