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비전 검사기를 활용한 T형 용접너트 자동 선별시스템 개발
Development of Auto Sorting System for T Type Welding nut using A Vision Inspector 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the institute of electronics engineers of Korea. IE. 산업전자, v.48 no.1, 2011년, pp.16 - 24  

송한림 (안산공과대학 기계설계과) ,  허태원 (안산공과대학 멀티미디어컨텐츠과)

초록
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본 논문에서는 트림 T형 용접너트 생산 시스템 중 불량품을 자동으로 선별할 수 있는 자동 선별기를 비전 검사기를 사용하여 개발하였다. 카메라로부터 입력되는 영상 신호에 대해 히스토그램을 활용한 경계 판별 및 나사산 검출, 이진 모폴로지 연산(Binary morphology operation)을 활용한 얼룩 검출 등의 기법을 활용하였다. 기존의 검사기나 육안 검사에서 불가능하였던 수치 검사를 0.1mm의 정밀도로 검사할 수 있도록 하였으며, 이를 통해 제조단가를 25% 절감하고 생산성을 330% 이상 향상시킬 수 있었다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, we developed a auto sorting system for T type welding nut using a vision inspector. We used edge and thread detection with histogram of image which is captured by machine vision camera. We also used a binary morphology operation for a detection of spot. As a result we performed numeri...

주제어

#비전 검사기   #자동 선별기   #T형 용접너트  

AI 본문요약
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문제 정의

  • 후)측정기술">측정 기술 및 소프트웨어를 활용할 수 있다. 본 논문에서는 Microsoft 사의 Visual C++를 이용하여 T형 용접너트 비전 검사 소프트웨어를 개발하였다. 그림 3은 개발된 T형 본 논문에서는 T형 용접너트의 불량 제품 선별을 위한 검사 공정의 자동화를 위하여 Tack Time 0.45[sec/EA] 인 비전 자동 선별기를 개발하였다. 본 논문에서는 이와 같은 문제점을 극복하고자 T형 용접너트의 불량 검사를 수행할 수 있는 비전 검사기를 개발 제작하였다. 그림 1은 개발된 T형 용접너트의 이에 본 논문에서는 트림 T형 용접너트 생산시스템중 불량품을 자동으로 선별할 수 있는 자동 선별기를 개발하여 생산 공정에 적용하여 품질 관리의 효율성을 높일 수 있는 시스템을 개발하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
트림 T형 용접너트란 무엇인가? 트림 T형 용접너트는 자동차의 다양한 섀시부에 압 접되어 각종 구조물을 지탱하는 역할을 수행하는 중요한 강도부품이다. 트림 T형 용접너트 생산 공정은 전체 5공정(단조→프레스→드릴링→탬핑→검사/포장)으로 이루어진다.
비전 검사기는 어느 분야에서 응용되고 있는가? 비전 검사기는 회로보드(PCB), 엔진 밸브, 미세탐침, 지그플레이트 등의 불량 검사시스템 뿐만 아니라, LCD 나 PDP 등의 얼룩, 휘도 등의 평판 디스플레이의 결함을 검사하는 장비에서부터 메모리 모듈의 외관, 휴대폰 케이스를 검사하여 양품과 불량을 판단하는 등 다양한 분야에서 응용되고 있다[1～5]. 현대의 제조공정에 있어, 제품과 제품 조립에 필요한 부품을 생산하는 생산시스템은 부분적으로 컴퓨터를 이용한 자동화가 상당히 진행되었다.
트림 T형 용접너트 생산 시 제품을 전수검사하는 이유는 무엇인가? 트림 T형 용접너트 생산 공정은 전체 5공정(단조→프레스→드릴링→탬핑→검사/포장)으로 이루어진다. 또한, 용접너트 특성상 불량품이 발견되면 해당 단품, 용접된 조립품 및 완성차까지 다시 선별하거나 폐기해야 하기 때문에 전수검사를 실시해야 한다. 따라서 공정관리 및 품질관리가 대단히 곤란한 부품이며, 전수검사를 실시했다 하더라도 출하 후 불량품이 발견되는 경우, 치명적인 결함이 될 수 있다.
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참고문헌 (8)

  1. Chern-Sheng Lin, Li Wen Lue, "An Image system for fast positioning and accuracy inspection of ball grid array boards," Microelectronics and Reliability, Vol 41, No 1, pp. 119-128, January 2001. 

    상세보기 crossref

  2. W.A. Perkins, "Computer visio inspection of value spring assemblies on engine heads," in IJCAI, Vancouver, Canada, pp.1066, August 1981. 

  3. 조인성, 이지홍, 오상진, "사용자 중심의 유연한 실시간 머신비전 검사시스템 개발", 전자공학회 논문지, 제45권 SC편 제3호, 42-29쪽, 2008년 5월. 

  4. 강수민, 한광희, 허경무, "미세 탐침의 비전 자동검사 시스템 개발", 전자공학회 논문지, 제45권 SC 편, 제6호, 16-24쪽, 2008년 11월. 

  5. 박세혁, 한광희, 강수민, 허경무, "대비 향상을 사용한 지그 플레이트 홀 군집의 Vision 검사 방법 개발", 전자공학회 논문지 제 46권 SC편, 제6호 14-20쪽, 2009년 11월. 

  6. 한영근 역, "생산자동화와 CIM", 시그마프레스, pp.1-10, 2005. 

  7. J. Velten, A. Kummert, "Multidimensional systems and signal processing", Kluwer Academic Publishers, pp.211-217, 2005. 

  8. E.R.Davies, "Machine Vision : Theory, Algorithms, Practicalities(Signal Processing and its Applications)", Morgan Kaufmann, pp.233-235, 2005. 

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