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[국내논문] 필드 고장 요약 데이터를 활용한 미래 고장수의 예측
Predicting the future number of failures based on the field failure summary data 원문보기

Journal of the Korean Data & Information Science Society = 한국데이터정보과학회지, v.22 no.4, 2011년, pp.755 - 764  

백재욱 (한국방송통신대학교 정보통계학과) ,  조진남 (동덕여자대학교 정보대학 정보통계학과)

초록
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기업은 종종 과거의 필드 고장 데이터를 이용하여 미래에 필드에서 고장이 얼마나 일어날 것인지 예측한다. 특히 이런 예측은 필드에서 예기치 않던 고장모드 (failure mode)가 발견될 때 더욱 하고 싶어진다. 왜냐하면 기업은 이런 예측을 통해 미래에 품질보증 비용이 얼마나 될 것인지 파악하고, 고장 난 부품을 재빨리 수리하는데 필요한 여유 부품의 수를 파악하고 싶기 때문이다. 본 연구에서는 기업에서 생길 수 있는 요약 데이터를 사용하여 미래 필드에서 고장이 얼마나 발생할 것인지 예측하고, 이런 요약 데이터이외에 또 어떤 데이터가 생길 수 있으며 이때 분석결과가 어떻게 나올 수 있는지 알아본다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In many companies field failure data is used to predict the future number of failures, especially when an unexpected failure mode happens to be a problem. It is because they want to predict the number of spare parts needed and the future quality warranty cost associated with the part based on the pr...

Keyword

AI 본문요약
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문제 정의

  • 근래에는 Hong과 Meeker (2010), Yang (2007), Lawless 등 (2009)에서 수명이외에 사용률 (use-rate)을 고려하는 경우 통계적 분석방법에 대한 연구가 많이 진행되고 있다. 본 연구에서는 기업에서 수집될 수 있는 표 1.1의 요약 데이터 (가상 데이터임)를 사용하여 장래에 필드에서 고장이 얼마나 발생할 것인지 예측하는 방법을 살펴본다. 이때 기업에서 흔히 이용하는 방법은 요약 데이터를 확률지에 타점하여 점들이 직선 형태를 띠면 그 분포가 적합한 것으로 판단한다.
  • 이때 기업에서 흔히 이용하는 방법은 요약 데이터를 확률지에 타점하여 점들이 직선 형태를 띠면 그 분포가 적합한 것으로 판단한다. 따라서 본 연구에서는 이런 요약데이터를 가지고 있는 경우 기업에서 신뢰성분석에 쉽게 사용하는 와이블분포나 로그정규분포를 이용하여 어떻게 예측할 수 있는지 살펴본다.
  • 1의 요약 데이터를 가지고 있는 경우 어떤 분포가 적합한지 먼저 살펴본다. 그리고 해당 분포로부터 난수를 추출하여 요약 데이터만 있는 경우, 요약 데이터보다 약간 정보가 더 많은 우측 중도중단의 경우와, 우측 중도중단의 경우보다도 정보가 더 많은 완전 데이터의 경우 분포의 적합성 검정이 의미가 있는지 살펴본다.
  • 이런 방법은 SAS, SPSS 및 Minitab과 같은 통계패키지를 사용하면 쉽게 이용할 수 있다.이제 표 1.1의 데이터에 대해 와이블분포와 로그정규분포를 적합시켜 제품이 서비스된 이후 시간이 흐르면서 전체 중 몇 %가 고장 나는지 보고자 한다. 그림 3.
  • 본 연구에서는 필드 고장데이터가 요약된 경우 (좌측 및 우측 중도중단 데이터의 경우) 분포를 적합시켜 그림상으로 어떤 분포가 적합한지 살펴보았고, 적합된 분포를 적용하는 경우 품질보증기간 및 그 이상의 기간에서 신뢰도나 고장률 등은 어떻게 나올 것인지 알아보았다. 아울러 적합된 분포를 적용하는 경우 품질보증기간 및 그 이상의 기간 동안 고장이 몇 개나 나올 것인지 예측해보았다.
  • 본 연구에서는 필드 고장데이터가 요약된 경우 (좌측 및 우측 중도중단 데이터의 경우) 분포를 적합시켜 그림상으로 어떤 분포가 적합한지 살펴보았고, 적합된 분포를 적용하는 경우 품질보증기간 및 그 이상의 기간에서 신뢰도나 고장률 등은 어떻게 나올 것인지 알아보았다. 아울러 적합된 분포를 적용하는 경우 품질보증기간 및 그 이상의 기간 동안 고장이 몇 개나 나올 것인지 예측해보았다.
  • 본 연구에서는 어느 한 시점에서 필드 고장데이터가 요약된 경우를 살펴보았는데, 현실적으로 매 달마다 생산되고, 그 중의 일부가 판매되어, 판매된 시점부터 품질보증기간 동안 필드에서 고장이 얼마나 나는지 조사하고, 이로부터 나온 동적인 데이터로부터 분포의 예측 및 고장수 예측을 해야 한다. 다음 연구에서는 이런 동적인 시점에서의 필드 고장데이터 분석방법에 대해 살펴보고자 한다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
수명 데이터는 기초통계학 과정에서 가르치는 방법론으로는 분석할 수가 없는 이유는? 이와 같은 수명 데이터는 기초통계학 과정에서 가르치는 방법론으로는 분석할 수가 없다. 그 이유 중 하나는 데이터가 중도중단 데이터이기 때문이며, 아울러 고장시간을 나타내는 데이터가 통상적으로 정규분포를 따르지 않기 때문이다. 이런 수명 데이터는 많은 경우 이론적으로 그리고 실증적으로 와이블 분포나 로그정규분포가 적합한 것으로 밝혀졌다.
기업은 무엇을 예측하고 싶어하는가? 기업은 종종 과거 필드에서의 고장 데이터를 이용하여 미래 필드에서 고장이 얼마나 일어날 것인지 예측하고 싶다. 특히 이런 예측은 필드에서 사전에 기대치 않던 고장이 발견될 때 더욱 하고 싶다.
요약데이터는 어떤 데이터 형태인가? 그런데 이런 요약데이터는 제품이 필드에 들어오는 시기가 다름으로 인해 중도중단 시점이 여럿이며, 좌측 중도중단과 우측 중도중단이 함께 나타나는 형태의 데이터이다. 이런 요약 데이터의 경우 수정된 앤더슨다링 검정통계량의 값은 너무 크므로 이것을 기준으로 특정 분포가 적합한지 통계적으로 판단하기는 어렵다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (8)

  1. Baik J. W. (2010). The study on the analysis of quality assurance data. Journal of the Korean Data & Information Science Society, 21, 621-628. 

  2. Baik J. W. and Jo, J. N. (2010). Various types of modelling for scale parameter inWeibull intensity function for two-dimensional warranty data. Journal of the Korean Data & Information Science Society, 21, 555-560. 

  3. Hong, Y. and Meeker, W. Q. (2010). Field-failure and warrnaty prediction based on auxiliary use-rate information. Technometrics, 52, 148-159. 

  4. Jung, K. M. (2006). Optimal preventive maintenance policy for a repairable system. Journal of the Korean Data & Information Science Society, 17, 367-377. 

  5. Jung, K. M. (2008). Optimization of cost and downtime for periodic PM model following the expiration of warranty. Journal of the Korean Data & Information Science Society, 19, 587-596. 

  6. Lawless, J. F. (1998). Statistical analysis of product warranty data. International Statistical Review, 66, 41-60. 

  7. Lawless, J. F., Crowder, M. J. and Hong, Y. (2009). Using accelerated life tests results to predict product field reliability. Technometrics, 51, 146-161. 

  8. Yang, G. (2007). Life cycle reliability engineering, Wiley, Hoboken, NJ. 

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