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NTIS 바로가기전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.25 no.12, 2012년, pp.1009 - 1014
박준형 (충남대학교 전자공학과) , 명승엽 (한국철강(주) 에너지연구소) , 이가원 (충남대학교 전자공학과)
Hydrogenated amorphous silicon (
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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지구상 화석에너지의 고갈 예상 기간은 어떠한가? | 현재 지구상의 화석에너지인 석유는 40년, 천연가스는 63년, 석탄은 119년 후에 고갈이 예상되고 있으며, 이에 따라 화석연료 기반의 에너지 대신 태양, 바람, 물 등 청정자연을 이용한 재생에너지에 대한 수요가 점차 확대되고 있다. 이러한 신재생에너지 중에서도 태양에너지는 가장 이상적인 에너지로 주목받고 있는 분야이다. | |
실리콘 이종접합 태양전지는 어떤 효과에 의해 성능이 좌우되는가? | 이러한 태양에너지를 전기로 변환하는 태양전지의 경우 효율을 개선시키는 것이 매우 중요하다. 고효율 태양전지로 알려져 있는 일반적인 실리콘 이종접합 태양전지는 이종접합 계면에서의 passivation 효과에 의해서 그 성능이 좌우되어 진다 [1]. 일본 Sanyo의 HIT (hetero-junction with intrinsic thin-layer)로 대표되는 이종접합 태양전지의 경우 수소화된 진성 비정질 실리콘 (i-ɑ-Si:H) 박막을 이용하여 실리콘 웨이퍼의 표면을 passivation함으로써 높은 개방 전압, 우수한 온도계수 특성 및 22% 이상의 매우 높은 효율을 보이고 있다 [2,3]. | |
태양전지의 이종접합 계면 특성 중 계면에서 에피 성장이 이루어질 경우 어떤 문제가 생기는가? | 이러한 고효율 이종접합 태양 전지를 제작하는데 있어서 단결정 실리콘과 비정질 실리콘 사이의 이종접합 계면 특성이 매우 중요한데 유럽의 HMI (Hahn-Meiner-Institute)에서는 실리콘 웨이퍼 세정을 통해 이종접합 계면에서의 재결합을 감소시켜 이종접합 태양전지의 성능을 향상시키는 연구를 진행하고 있다 [4]. 또한 계면 특성과 관련한 미국의 NREL의 연구 결과에 따르면 이종접합 계면에서 에피 성장이 이루어질 경우 passivation 효과가 저하되면서 재결합이 증가하여 태양전지의 성능이 저하되는 것으로 나타났다 [5]. 이 경우 단결정 박막 위에 형성된 비정질 박막의 결정 특성을 분석하는 것이 매우 중요하나 실리콘 이종접합 태양전지의 특성 상 i-ɑ-Si:H 박막에 대한 적절한 물성 평가 방법이 많지 않다. |
M. Taguchi, A. Terakawa, E. Maruyama, and M. Tanaka, Prog. Photovolt: Res. Appl., 13, 481 (2005).
M. Tanaka, M. Taguchi, T. Matsuyama, T. Sawada, S. Tsuda, S. Nakano, H. Hanafusa, and Y. Kuwano, Jpn. J. Appl. Phys., 31, 3518 (1992).
E. Maruyama, A. Terakawa, M. Taguchi, T. Yoshimine, D. Ide, T. Baba, M. Shima, H. Sakata, and M. Tanaka, 4th WCPEC, 1455 (2006).
H. Angermann, L. Korte, J. Rappich, E. Conrad, I. Sieber, M. Schmidt, K. Hubener, and J. Hauschild, Thin Solid Films, 516, 6775 (2008).
T. H. Wang, E. Iwaniczko, M. R. Page, D. H. Levi, Y. Yan, H. M. Branz, and Q. Wang, Thin Solid Films, 501, 284 (2006).
M. Schmidt, L. Korte, A. Laades, R. Stangl, C. Schubert, H. Angermann, E. Conrad, and K. V. Maydeel, Thin Solid Films, 515, 7475 (2007).
H. Sakata, T. Nakai, T. Baba, M. Taguchi, S. Tsuge, K. Uchihashi, and S. Kiyama, 28th IEEE PVSC, 7 (2000).
S. Tang, X. Liu, and X. Bao, Appl. Phys. Lett., 66, 469 (1995).
G. E. Jellison and Jr. F. A. Modine, Appl. Phys. Lett., 69, 371 (1996).
G. E. Jellison, and Jr. F. A. Modine, Appl. Phys. Lett., 69, 2137 (1996).
J. H. Koh, A. S. Ferlauto, P. I. Rovira, C. R. Wronski, and R. W. Collins, Appl. Phys. Lett., 75, 2286 (1999).
Q. Wang, M. R. Page, E. Iwaniczko, Y. O. Xu, L. Roybal, R. Bauer, B. To, H. C. Yuan, A. Duda, and Y. F. Yan, Proc. of the 33rd IEEE PVSEC (San Diego, 2008) p. 118.
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오픈액세스 학술지에 출판된 논문
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