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Sn3.5Ag와 Sn0.7Cu 무연솔더에 대한 고온 진동 신뢰성 연구
Reliability of High Temperature and Vibration in Sn3.5Ag and Sn0.7Cu Lead-free Solders 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.19 no.3, 2012년, pp.31 - 36  

고용호 (한국생산기술연구원 용접접합기술센터) ,  김택수 (한국과학기술원 기계공학과) ,  이영규 (한국생산기술연구원 용접접합기술센터) ,  유세훈 (한국생산기술연구원 용접접합기술센터) ,  이창우 (한국생산기술연구원 용접접합기술센터)

초록
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본 연구에서는 고 융점을 지니는 Sn-3.5Ag, Sn-0.7Cu 솔더의 복합 진동 신뢰성을 고찰하였다. 테스트 샘플은 ENIG (Electroless Nikel Immersion Gold) 표면처리 된 BGA (Ball Grid Array)칩에 Sn-3.5Ag, Sn-0.7Cu 솔더볼을 접합 후, 솔더볼이 장착된 BGA부품을 OSP (Organic Solderability Preservative) 표면처리 된 PCB에 리플로우 공정을 통하여 실장 하였다. 복합 진동 신뢰성 시험 중에 부품의 저항 변화를 측정하기 위하여 BGA칩과 PCB는 데이지 체인을 구성하여 제작하였다. 이를 통한 저항의 변화와 시험 전후의 부품에 대한 전단 강도 시험을 통하여 두 종류의 솔더에 대한 복합환경에서의 신뢰성을 비교, 평가하였다. 120시간 복합 진동 동안 전기저항 증가와 접합강도 저하를 고려할 때 Sn-0.7Cu 솔더가 복합 환경에서 높은 안정성을 나타내었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, the complex vibration reliability of Sn-3.5Ag and Sn-0.7Cu having a high melting temperature was investigated. For manufacturing of BGA test samples, Sn-3.5Ag and Sn-0.7Cu balls were joined on BGA chips finished by ENIG and the chips were mounted on PCB finished OSP by using reflow pr...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 연구에서는 Sn-3.5Ag, Sn-0.7Cu의 고온 무연 솔더를 대상으로 자동차 전장품에 적용을 위하여 자동차 사용 환경에 맞는 신뢰성을 확인할 수 있도록 고온에서의 복합 진동 시험에 대하여 신뢰성 평가를 하였다. 시험 후 전기 저항 및 접합 강도의 측정, 내부미세구조의 변화, 파괴모드의 비교를 통하여 다음과 같은 결론을 얻었다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
신뢰 성 시험 시간 증가에 따라 전기 저항이 증가하는 이유는 무엇인가? 이전의 연구에서 멀티 리플로우 혹은 시효처리시 전기 저항이 증가하는 것을 관찰한 경우가 있는데11) 이러한 저항증가의 이유를 계 면 IMC(Intermetallic Compound) 증가와 크랙 등 내부결 함 증가에 기인하는 것으로 보았다. 본 연구에서도 신뢰 성 시험 시간 증가에 따라 전기 저항이 증가하는 이유 역시 계면 IMC의 성장과 진동에 의해 발생한 크랙 등에 기인하는 것으로 사료된다. 특히, Sn-3.
자동차의 사용 환경은 어떻게 되는가? 자동차의 사용 환경은 일반 전자기기와는 달리 엔진부 전장품의 온도가 150o C에 이르는 등 고온 환경에 노출되어 있고 운행 중 발생하는 진동에 의하여 최대 20G까지의 진동을 수반하는 등 가전 제품에 비교하여 매우 가혹한 환경이라 할 수 있다. 7) 따라서 일반적인 전단강도 시험이나 상온에서 이루어지는 기계적 신뢰성 시험으로는 자동차 사용의 실제 사용환경에 대한 신뢰성을 정확히 판단하기 어렵다.
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참고문헌 (12)

  1. S. K. Kang and A. K. Sharkel, "Pb-free solders for Electronic Packaging", J. Electron. Mater., 23(8), 701 (1994). 

  2. M. McCormack and S. Jin, "Improved Mechanical Properties in New, Pb-Free Solder Alloys", J. Electron. Mater., 23(8), 715 (1994). 

  3. Y. K. Jee, Y. H. Ko and J. Yu, "Effects of Zn addition on the drop reliability of Sn-3.5Ag-xZn/Ni(P) solder joints", J. Mater. Res., 22(10), 1879 (2007). 

  4. Dianne Michell, Bret Zahn and Flynn Carson, "Board Level Thermal Cycle Reliability and Solder Joint Fatigue Life Predictions of Multiple Stacked Die Chip Scale Package Configurations", Proc. 54th Electronic Components and Technology Conference, 699 (2004). 

  5. B. I. Noh, S. H. Won and S. B. Jung, "Study on Characteristics of Sn-0.7wt%Cu-Xwt%Re Solder", J. Microelectron. Packag. Soc., 14(4), 21 (2007). 

  6. J. H. Choi, S. W. Jun, H. J. Won, B. Y. Jung, and T. S. Oh, "Electromigration Behavior of the Flip-Chip Bonded Sn- 3.5Ag-0.5Cu Solder Bumps", J. Microelectron. Packag. Soc., 11(4), 43 (2004). 

  7. R. W. Johnson, J. L. Evans, P. Jacobsen, J. R. Thompson and M. Christopher, "The Changing Automotive Environment: High-Temperature Electronics", IEEE Trans. Electron. Package. Manufac. 27(3), 164 (2004). 

  8. F. X. Che and John H. L. Pang, "Vibration reliability test and finite element analysis for flip chip solder joints", Microelectron. Reliab., 49, 754 (2009). 

  9. Y. S. Chen, C. S. Wang and Y. J. Yang, "Combining vibration test with finite element analysis for the fatigue life estimation of PBGA components", Microelectron. Reliab., 48, 638 (2008). 

  10. J. M. Song, T. S. Lui, G. F. Lan and L. H. Chen, "Resonant vibration behavior of Sn-Zn-Ag solder alloys", J. Alloy. Compd., 379 (2004). 

  11. S. K. KANG, W. K. CHOI, M. J. YIM and D. Y. SHIH, "Studies of the Mechanical and Electrical Properties of Lead- Free Solder Joints", J. Electron. Mater., 31(11), 1292 (2002). 

  12. M. Date, T. Shoji, M. Fujiyoshi, K. Sato and K. N. Tu, "Ductile- to-brittle transition in Sn-Zn solder joints measured by impact test", Scripta Materialia, 51, 641 (2004). 

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