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NTIS 바로가기大韓機械學會論文集. Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers. B. B, v.36 no.2 = no.317, 2012년, pp.117 - 123
정봉부 (포항공과대학교 기계공학부) , 이헌기 (MIT 재료공학과) , 박현철 (포항공과대학교 기계공학부)
This paper discusses two different techniques used to measure the mechanical properties of thin films: the bulge test and the nanoindentation test. In the bulge test, a uniform pressure is applied to one side of the film. Measurement of the membrane deflection as a function of the applied pressure a...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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미세전기기계시스템은 어떻게 구성되는가? | 최근 반도체 집적회로 제조기술을 응용한 미소 기계부품의 제작이 가능하게 됨에 따라 미소부품과 집적회로를 하나의 칩으로 일체화시킨 미세전기기계시스템(MEMS)이 등장하게 되었다. 이러한 미세전기기계시스템은 1 마이크론(Micron)이하부터 수십 마이크론의 두께를 가지는 여러 개의 박막으로 구성된다. 그러나 이러한 박막의 기계적인 물성은 거대 구조물의 물성과는 다르다는 것이 알려져 있고 측정 또한 힘들다. | |
푸아송비가 MEMS 구조물의 일반적인 특성에 영향을 미치는 예에는 무엇이 있는가? | 그러나 푸아송비는 MEMS 구조물의 뒤틀림이나 굽힘 특성이 포함되었을 때에만 아니라 일반적인 특성에도 영향을 미친다. 한 예로 굽힘 방향과 수직인 방향의 굽힘 곡률에 영향을 줄 뿐 아니라 St. Venant 의 원리에 의하여 거리에 따른 응력의 감소나 크랙(Crack)주변의 응력 분포에도 영향을 미친다. MEMS 구조물의 해석을 위해서는 푸아송비의 정확한 측정이 요구 되나 박막의 푸아송비의 측정에 대한 연구는 아직 부족하다. | |
나노 압입 실험이 박막의 물성 측정에 많이 쓰이는 이유는? | 이런 박막에 대한 기계적 특성 평가 방법에는 여러 가지가 있는데 그 중에서 나노 압입 실험(Nano-indentation test)은 시편 준비가 용이할 뿐만 아니라 시편의 고정이나 정렬 그리고 하중 문제를 고려하지 않아도 되기 때문에 박막의 물성 측정에 많이 사용되고 있다. 그리고 벌지 실험(Bulge test) 은 외적 지지구조를 가지지 않는 박막 시편을 이용하여 물성을 측정하게 되는데 모재의 영향이 없을 뿐만 아니라 압력과 변위를 직접 얻을 수 있어 물성을 쉽게 구할 수 있는 방법이다. |
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