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원자 현미경용 콜로이드 탐침 수직 스프링 상수 측정
Measurement of Normal Spring Constant of Colloidal Probes for Atomic Force Microscope 원문보기

윤활학회지 = Journal of the Korean Society of Tribologists and Lubrication Engineers, v.28 no.5, 2012년, pp.212 - 217  

김대현 (서울과학기술대학교 NID융합기술대학원) ,  김민석 (한국표준과학연구원) ,  한준희 (한국표준과학연구원) ,  안효석 (서울과학기술대학교 기술경영융합대학)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

A modified thermal noise method was proposed to measure the normal spring constants of the colloidal probes for an atomic force microscope. We used commercial tipless cantilevers (length 150, width 30, nominal k 7.4 N/m) and borosilicate spheres with a diameter of 20 to fabricate colloidal probes. T...

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  • 또한 콜로이드 입자 부착에 따른 캔틸레버의 유효 길이와 수직 스프링 상수의 상관관계도 확인하였다. 이번 연구에서는 캔틸레버의 스프링 상수를 측정할 때 고려해야할 레이저 반사점 위치와 콜로이드 탐침의 미끄러짐 등의 영향은 고려하지 않았다. 그러나 본 연구를 통해 기존의 thermal method를 응용하여 콜로이드 탐침의 수직 스프링 상수 결정하는 방법이 매우 간단하면서도 유효함을 확인할 수 있었다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
원자 현미경 개발 이후, 무엇이 가능해졌는가? 원자 현미경(Atomic force microscope, AFM) 개발 이후 재료의 표면 형상에 대한 나노 스케일 이하 해상도의 영상뿐만 아니라 표면의 국부 전기 및 자기 특성 그리고 탄성, 트라이볼로지 특성과 같은 기계적 특성도구할 수 있게 되었다[1]. 일반적으로 AFM을 이용한 기계적 특성 측정은 하중-변위 곡선을 기반으로 하는데 하중-변위 곡선은 탐침 선단과 캔틸레버의 형상 그리고 캔틸레버의 스프링 상수에 직접적으로 영향을 받는다.
AFM 이용한 기계적 특성 측정은 무엇을 기반으로 하는가? 원자 현미경(Atomic force microscope, AFM) 개발 이후 재료의 표면 형상에 대한 나노 스케일 이하 해상도의 영상뿐만 아니라 표면의 국부 전기 및 자기 특성 그리고 탄성, 트라이볼로지 특성과 같은 기계적 특성도구할 수 있게 되었다[1]. 일반적으로 AFM을 이용한 기계적 특성 측정은 하중-변위 곡선을 기반으로 하는데 하중-변위 곡선은 탐침 선단과 캔틸레버의 형상 그리고 캔틸레버의 스프링 상수에 직접적으로 영향을 받는다. 하지만 하중-변위 곡선을 이용한 응착력(Adhesion force) 측정이나 마모 시험과 같이 탐침과 시편이 접촉한 상태에서 진행되는 시험 중에는 곡률이 작은 상용 탐침 선단은 쉽게 마모되는 문제점이 있다.
캔틸레버의 콜로이드 탐침 기술은 어떠한 문제를 해결하기 위한 기술인가? 일반적으로 AFM을 이용한 기계적 특성 측정은 하중-변위 곡선을 기반으로 하는데 하중-변위 곡선은 탐침 선단과 캔틸레버의 형상 그리고 캔틸레버의 스프링 상수에 직접적으로 영향을 받는다. 하지만 하중-변위 곡선을 이용한 응착력(Adhesion force) 측정이나 마모 시험과 같이 탐침과 시편이 접촉한 상태에서 진행되는 시험 중에는 곡률이 작은 상용 탐침 선단은 쉽게 마모되는 문제점이 있다. 탐침 선단이 마모되어 형상이 변하면 접촉 면적과 접촉 압력이 변하기 때문에 신뢰성 있는 결과를 얻기 어렵게 된다. 이 문제를 해결하기 위해 캔틸레버의 끝단에 마이크로 크기의 구형 입자를 붙여 사용하는 콜로이드 탐침 기술(Colloidal probe technique, CPT)은 시험 중 탐침선단의 변형을 최소화시킬 수 있기 때문에 마모 시험 및 표면 에너지 연구에 매우 효율적인 기술이다[2,3].
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참고문헌 (14)

  1. M. A. Poggi, E. D. Gadsby, L. A. Bottomley, W. P. King, E. Oroudjev, and H. Hansma, "Scanning Probe Microscopy," Analytical Chemistry, Vol. 76, No. 12, pp. 3429-2444, 2004. 

  2. M. Kappl and H. J. Butt, "The Colloidal Probe Technique and its Application to Adhesion Force Measurements," Particle and Particle Systems Characterization, Vol. 19, pp. 129-143, 2002. 

  3. H. J. Butt, B. Cappella, and M. Kappl, "Force Measurements with Atomic Force Microscope: Technique, Interpretation and Applications," Surface Science Reports, Vol. 59, pp. 1-152, 2005. 

  4. E. S. Yoon, S. H. Yang, H. G. Han, and H. S. Kong, "An experimental study on the adhesion at a nanocontact," Wear, Vol. 254, pp. 974-980, 2003. 

  5. J. Lou and K. S. Kim, "Effects of Interfaces on Nano-friction of Vertically Aligned Multi-walled Carbon Nanotube Arrays," Materials Science and Engineering A, Vol. 483-484, pp. 664-667, 2008. 

  6. M. A. S. Quintanilla and D. T. Goddard, "Lateral Force Microscopy with Micrometer-sized Particles: Effect of Wear on Adhesion and Friction," Wear, Vol. 268, pp. 277-286, 2010. 

  7. J. L. Hutter and J. Bechhoefer, "Calibration of Atomic-force Microscope Tips," Review of Scientific Instruments, Vol. 64, No. 7, pp. 1868-1973, 1993. 

  8. J. E. Sader and L. White, "Theoretical Analysis of Static Deflection of Plates for Atomic Force Microscope Application," Journal of Applied Physics, Vol. 74, No. 1, pp. 1-9, 1993. 

  9. J. E. Sader, J. W. M. Chon, and P. Mulvaney, "Calibration of Rectangular Atomic Force Microscope Cantilevers," Review o f Scientific Instruments, Vol. 70, No. 10, pp.3967-3969, 1999. 

  10. M. S. Kim, J. H. Choi, J. H. Kim, and Y. K. Park, "SI-traceable Determination of Spring Constants of Various Atomic Force Microscope Cantilevers with a Small Uncertainty of 1%," Measurement Science and Technology, Vol. 18, pp. 3351-3358, 2007. 

  11. M. S. Kim, J. H. Choi, J. H. Kim, and Y. K. Park, "Accurate Determination of Spring Constant Atomic Force Microscope Cantilever and Comparison with other Methods," Measurement, Vol. 43, pp. 520-526, 2010. 

  12. L. H. Mak M. Knoll, D. Weiner, A. Gorschluter, A. Schirmeisen, and H. Fuchs, "Reproducible Attachment of Micrometer Sized Particles to Atomic Force Microscopy Cantilevers," Review of Scientific Instruments Vol. 77, 046104, 2006. 

  13. R. Proksch, T. E. Schaffer, J. P. Cleveland, R. C. Callahan, and M. B. Viani, "Finite Optical Spot Size and Position Corrections in Thermal Spring Constant Calibration," Nanotechnology, Vol. 15, pp. 1344-1350, 2004. 

  14. D. A. Walters, J. P. Cleveland, N. H. Thomson, P. K. Hansma, M. A. Wendman, G. Gurley, and V. Elings, "Short Cantilevers for Atomic Force Microscopy," Review of Scientific Instruments, Vol. 67, No. 10, pp. 3583-3590, 1996. 

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