최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기멀티미디어학회논문지 = Journal of Korea Multimedia Society, v.15 no.6, 2012년, pp.784 - 793
이준재 (계명대학교 게임모바일콘텐츠학과) , 이광호 (경일대학교 전자공학과) , 정창도 (타이코에이엠피 연구소) , 박길흠 (경북대학교 전자전기공학부) , 박윤범 (서원대학교 수학교육학과) , 이병국 (동서대학교 컴퓨터정보공학부)
Defects of TFT-LCD is detected by thresholding the difference image between the input image and template one because LCD panel has its inherent patterns. However, the pitch corresponding to pattern period is gradually changed according to the distance from the center of camera due to geometric disto...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
기존의 CRT 디스플레이 장치를 대신해 액정 디스플레이의 장점은? | 액정 디스플레이는 기존의 CRT 디스플레이 장치를 대신해, 가볍고 전역적인 컬러 표현이 가능하며, 전력 소모량이 적은 장점으로 인해 점점 그 사용이 증가하고 있다. 이러한 발달과 함께 제조공정에서 LCD 패널의 결함 검출이 제품의 질과 직결 되는 중요한 공정으로 인식되어 왔다. | |
평판 디스플레이 장치에 결함이 생기는 이유는? | 이러한 발달과 함께 제조공정에서 LCD 패널의 결함 검출이 제품의 질과 직결 되는 중요한 공정으로 인식되어 왔다. 평판 디스플레이 장치에 결함이 생기는 이유는 제조 과정에서 제조 기계의 오작동, 먼지나 분진에 의한 미세한 결점, 제조자의 실수 등 많은 이유에 의해 생긴다. 이렇게 생긴 결함은 디스플레이 장치의 상품성을 낮추고, 사용자에게 불편을 주게 되므로, 제조 공정에서 평판의 결함을 검출하는 작업이 매우 중요하다. | |
TFT-LCD의 결함은 크게 매크로 결함과 마이크로 결함으로 나누는데 이에 대한 결함검출 방법은? | TFT-LCD의 결함은 크게 매크로(macro) 결함과 마이크로(micro) 결함으로 나누고, 이에 대한 결함검출 방법과 접근은 매우 다르다. 전자는 넓은 영역에 걸쳐 얼룩이나, 여러 화소에 걸쳐있는 결함을 검출하는 것으로 수십 mm의 해상도로 영상을 획득한다. 후자는 한 화소내의 구성성분에 존재하는 아주 적은 결함을 검출하는 것으로 수 um의 해상도로 영상을 획득한다. |
C.J. Lu and D.M. Tsai, "Defect Inspection of Patterned Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display Panels Using a Fast-Image- Based Singular Value Decomposition," Int. J . Prod. Res., Vol.42, No.20, pp. 4331-4351, 2004.
W.K. Pratt, S.S. Sawkar, and Kevin O'Reilly, "Automatic Blemish Detection in Liquid Crystal Flat Panel Displays," SPIE Mach. Vision App. in Industrial Inspection, Vol.3306, pp. 2-13, 1998.
K. Taniguchi and S. Tatsumi, "A Detection Method for Irregular Lightness Variation of Low Contrast," IEEE Systems, Man and Cybernetics, Vol.7, No.3, pp. 6401-6406, 2004
F.H.Y. Chan, F.K. Lam, and H. Zhu, "Adaptive Thresholding by Variational Method," IEEE Transactions on Image Processing, Vol.2, No.3, pp. 168-174, 1998.
J.Y. Lee and S.I. Yoo, "Automatic Detection of Region-Mura Defect in TFT-LCD," IEICE Trans. Inf. & Syst., Vol.87-D, No.10, pp. 2371-2378, 2004.
B.C. Jiang, C.C. Wang, and H.C. Liu, "Liquid Crystal Display Surface Uniformity Defect Inspection using Analysis of Variance and Exponentially Weighted Moving Average Techniques," International Journal of Production Research, Vol.43, No.1, pp. 67-80, 2005.
K.B. Lee, M.S. Ko, J.J. Lee, T.M. Koo, and K. H.Park, "Defect Detection Method for TFT-LCD Panel Based on Saliency Map Model," IEEE Region 10 Conference, Vol.A, pp. 223-226, 2004.
김상지, 황용현, 이병국, 이준재, "B-spline 기반의 FPD 패널 결함 검사," 멀티미디어학회논문지, 제10권, 제10호, pp. 1271-1283, 2007.
Z. Yu and Z. Jian, "Fuzzy Recognition of the Defect of TFT-LCD," SPIE Electronic Imaging and Multimedia Technology IV, Vol. 5637, pp. 233-240, 2005.
J.H. Choi, D.M. Kwak, K.B. Lee, and Y.C. Song, "Line Defect Detection in TFT-LCD Using Directional Filter Bank and Adaptive Theresholding," Key Engineering Materials, Vol.270-273, No. 8, pp. 233-238, 2004.
H.C. Chen, L.T. Fang, L. Lee, C.H. Wen, S.Y. Cheng, and S.J. Wang, "LOG-Filter-Based Inspection of Cluster Mura and Vertical-Band Mura on Liquid Crystal Displays," SPIE Mach. Vision App. in Industrial Inspection, Vol. 5679, pp. 257-265, 2005.
D.M. Tsai and C.H. Chiang, "Automatic Band Selection for Wavelet Reconstruction in the Application of Defect Detection," Image and Vision Computing, Vol.21, No.5, pp. 413-431, 2003.
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
출판사/학술단체 등이 한시적으로 특별한 프로모션 또는 일정기간 경과 후 접근을 허용하여, 출판사/학술단체 등의 사이트에서 이용 가능한 논문
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.