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[국내논문] 비냉각형 TEC-less 열상 시스템에 적합한 선형보간 기반 동적 보정 계수 추정 기법
Dynamic Calibration Coefficients Estimation with Linear Interpolation for Uncooled TEC-less IRFPA 원문보기

항공우주기술 = Aerospace engineering and technology, v.11 no.1, 2012년, pp.98 - 102  

한상혁 (한국항공우주연구원 융합기술연구팀) ,  곽동민 (국방과학연구소)

초록
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비냉각형 열상 시스템에 대한 관심이 국방 및 항공우주 분야에서 증가하고 있다. 특히, 국방분야 무기체계에서는 무인화 및 주야간 적군 탐지를 위한 요소기술로 활용되고 있다. 비냉각형 열상 시스템의 연구 분야 중 저비용, 저전력, 소형화를 위한 비냉각형 TEC(Thermal Electric Cooler)-less 열상 시스템에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. 그러나 TEC-less로 운영하기 위해서는 최적화된 불균일보정 계수의 추출 및 적용이 요구된다. 본 논문에서는 TEC-less로 최적화 된 보정 계수 획득 방법으로 선형 보간법을 이용한 보정 계수 추정 방법인 DCCE-LI(Dynamic Calibration Coefficient Estimation with Linear Interpolation)을 제안하고, 실험을 통해 제안 기법이 기존의 정적 보정 계수를 적용한 것에 비해 IR 영상 품질이 우수하고, 실시간 보정 계수 추정이 가능함을 보인다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

These days, Uncooled IR Systems are more popular in the area of defense and aerospace than before. Uncooled IR Systems are widely used as core technology for making unmanned systems and detecting enemy objects during the day and night in the distance. Recently, researches on TEC-less IRFPA have been...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 TEC-less로 운영 시 FPA 검출기온도의 변화에 따른 최적화 된 보정 계수 획득방법으로 선형 보간법을 이용하여 현재 온도에적합한 보정 계수를 추출하는 방법인 DCCE-LI(Dynamic Calibration Coefficient Estimation with Linear Interpolation)을 제안하고, 비냉각 열상 시스템을 가지고 실험을 수행함으로써 IR 영상 품질이 향상됨을 확인 및 검증을수행하였다.
  • 본 절에서는 FPA 검출기의 온도를 변화하면서 일정 온도를 가진 대상 물체인 흑체에 대해 DC 출력 변화를 살펴본다. 이를 통해, FPA 검출기 온도가 변할 때 DC 출력의 변화 특성과 gain, offset 계수의 변화 특성을 살펴본다.

가설 설정

  • 3) 흑체 열상 DC 출력값을 가지고 정적 gain, offset 보정 계수를 구한다.
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참고문헌 (2)

  1. H. Honda, H. Funaki, I. Fujiwara, H. Yagi, K. Ishii, K. Suzuki, K. Sasaki, M. Ogata, R. Ueno, H. Kwon, 'A 320X240 pixel uncooled TEC-less infrared radiation focal plane array with the reset noise canceling algorithm', Proc. of SPIE 7660, pp. 76600Z1-10. 

  2. C. Minassian, J.L. Tissot, M. Vilain, O. Legras, S. Tinnes, B. Fieque, J.M. Chiappa, P. Robert, 'Uncooled amorphous silicon TEC-less 1/4 VGA IRFPA with $25{\mu}m$ pixel-pitch for high volume applications', Proc. of SPIE 6940, pp. 69401Z1-8. 

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