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NTIS 바로가기고분자 과학과 기술 = Polymer science and technology, v.24 no.5, 2013년, pp.528 - 534
이연희 (Advanced Analysis Center, Korea Institute of Science and Technology) , 이지혜 (Advanced Analysis Center, Korea Institute of Science and Technology)
초록이 없습니다.
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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표면은 일반적으로 무엇인가? | 최근 고체물질 연구의 중요한 부분을 차지하고 있는 것은 재료의 표면 측정 및 분석이다. 물질 자체의 성질과는 크게 다를 수 있는 표면이라는 영역을 여러 측면에서 정의할수 있는데 일반적으로 표면이란 다른 상과 계면을 이루는 한상의 경계면을 말한다.1 고체물질의 표면성분은 기초과학 뿐 아니라 산업발전 및 여러 기술 응용분야에 매우 중요한 역할을 차지하고 있다. | |
표면 분석의 현대적 방법으로 얻는 정보의 예시는 무엇이 있는가? | 표면 분석의 현대적 방법들은 여러 가지 화학적 정보를 제공한다. 예를 들면 원소분석, 산화수와 유기 작용기에 관한 정보, 분자량, 정량분석 그리고 물질의 분포에 대한 많은 정보들을 표면 분광학을 통하여 얻게 된다. 이와같은 표면 분광학적 기술은 들어오는 빔(입사입자)과 나가는 빔(방출입자)을 광자, 전자, 이온 중 어느 것을 사용하였느냐에 따라 다양하게 나눌 수 있다. | |
SIMS 장비는 어떤 정보를 얻을 수 있는가? | SIMS(secondary ion mass spectrometry) 장비는 일차이온으로 표면을 때리는 동안 방출하는 양이온 혹은 음이온을 분석하여 화학적 성분과 표면구조를 얻어낼 수 있다.2,3 SIMS의 초기응용은 마이크로탐침을 사용하여 물질의 표면에 있는 금속 확인이나 벌크 분석등이었으나4 지금은 표면의 화학적 구조를 알아내고 거대유기 분자와 생체분자의 특정한 토막 이온들을 보통 관찰할 수 있다. |
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