$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

Sn-3.0Ag-0.5Cu 무연솔더에서 Ag 함량의 감소는 기계적 충격 신뢰성 향상에 도움이 되는 반면 솔더링성을 저하시키는 것으로 알려져 있다. 본 연구에서는 저 Ag함유 무연솔더의 솔더링성 향상을 위해 In을 첨가한 Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In 4원계 조성과 여기에 미량의 Mn 및 Pd을 첨가한 무연솔더 조성에 대하여 솔더 젖음성을 평가하고, 보드 레벨 BGA 패키지의 열싸이클링 및 기계적 충격 신뢰성을 평가하였다. Sn-1.2Ag-0.7Cu 조성에 0.4 wt% In을 첨가한 합금의 젖음성은 Sn-3.0Ag-0.5Cu에 근접한 수준으로 향상되었으나, 패키지의 열싸이클링 신뢰성은 Sn-3.0Ag-0.5Cu에 미치지 못하는 것으로 나타났다. Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In 조성에 0.03 wt% Pd의 첨가는 솔더 젖음성 및 패키지 신뢰성을 저하시킨 반면에 0.1 wt% Mn을 첨가한 합금은 특히 기계적 충격 신뢰성이 Sn-3.0Ag-0.5Cu는 물론 Sn-1.0Ag-0.5Cu보다도 우수한 수준으로 향상되었는데, 이는 Mn 첨가가 합금의 모듈러스를 감소시킨 데에 기인하는 것으로 생각된다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Although the lowering of Ag content in Sn-3.0Ag-0.5Cu is known to improve the mechanical shock reliability of the solder joint, it is also known to be detrimental to the solderbility. In this study, the quaternary alloying effect of In and the minor alloying effects of Mn and Pd on the solderability...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

제안 방법

  • -40°C~125°C의 고온과 저온에서 각각 15분씩 유지하였으며, 총 5000회까지 열싸이클링을 수행하였다.
  • 13) 본 연구에 사용된 무연 솔더들의 융점은 215°C~217°C로 거의 유사한 것으로 확인됨에 따라 리플로우 프로파일상 피크(peak) 온도인 248°C와 240°C, 230°C에서의 젖음성을 측정, 비교하였다.
  • )에서 직경 450 μm의 솔더볼로 제조하였다. 녹는점은 TA사의 Q-100 시차주사열량계(differential scanning calorimetry, DSC)를 사용하여 온도 상승 시 열류량의 변화 시작점으로써 측정하였다.
  • 무연솔더 합금조성의 기계적 특성이 솔더 접합부의 신뢰성에 미치는 영향을 조사하기 위해 Fig. 4에 나타낸 규격으로 시편을 제작하여 인장시험을 수행하였다. 인장시험에 사용된 장비는 Instron 4481이었으며 시험속도는 10-2s-1(7.
  • PCB는 FR-4 재질로130×30×1(t) mm의 치수였으며, NSND(nonesolder mask defined) 타입의 패드를 OSP/Cu로 마감하였다. 보드 레벨에서의 신뢰성 테스트를 위해 Fig. 1과 같은 데이지 체인을 형성하였으며 리플로우 공정으로 BGA 패키지를 실장한 모듈을 제조하였다. 리플로우 솔더링시 사용된 솔더 페이스트는 SAC305 조성의 ALPHA OM-340(Cookcon Electronics) 제품이었다.
  • 본 연구에서는 Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In 합금 조성12)에 대하여 In 첨가가 솔더의 젖음성과 접합부 열싸이클링 및 기계적 충격 신뢰성에 미치는 영향을 SAC305 및 SAC105와 비교하여 조사하였으며, 접합부 신뢰성 향상을 위하여 0.1 wt% Mn 및 0.03 wt% Pd 의 첨가효과를 조사하였다.
  • 솔더 접합부의 조성별 열피로 특성을 평가하기 위하여 JESD22 A104D 시험조건 G18) 규격에 따라 VT 7012 S2(VOTCH) 장비를 사용하여 열싸이클링 시험을 실시하였다. -40°C~125°C의 고온과 저온에서 각각 15분씩 유지하였으며, 총 5000회까지 열싸이클링을 수행하였다.
  • 3에 본 연구에서 사용된 기계적 충격 신뢰성 시험의 모식도를 나타내었다. 이는 JEDEC의 board level drop test(JESD22 B113)21)와 달리 고정된 보드에 30 g 추를 일정 높이에서 낙하시켜 일정한 변위를 반복적으로 가하는 방식으로 설계하였다. 패키지의 고장기준은 샘플링속도 50 kHz에서 100 Ω 이상의 저항이 연속된 5회 중에 3회 이상 검출되는 것으로 설정하였다.
  • 저Ag 함유 무연솔더의 솔더링성 향상을 위해 In을 첨가한 Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In 4원계 조성과 여기에 미량의 Mn 및 Pd을 첨가한 무연솔더 조성에 대하여 솔더 젖음성과 열싸이클링 및 기계적 충격 신뢰성에 미치는 영향을 조사하였다.
  • 패키지의 고장기준은 샘플링속도 50 kHz에서 100 Ω 이상의 저항이 연속된 5회 중에 3회 이상 검출되는 것으로 설정하였다.

대상 데이터

  • 1과 같은 데이지 체인을 형성하였으며 리플로우 공정으로 BGA 패키지를 실장한 모듈을 제조하였다. 리플로우 솔더링시 사용된 솔더 페이스트는 SAC305 조성의 ALPHA OM-340(Cookcon Electronics) 제품이었다.
  • 솔더는 삼화비철(Samhwa Non-Ferrous Metal Ind. Co., Ltd.)에서 바(bar) 형태로 주조한 후 덕산하이메탈(DUKSAN HI-METAL Co., Ltd.)에서 직경 450 μm의 솔더볼로 제조하였다.
  • 시험편은 3×10 mm의 Cu를 사용하였으며, 수용성 플럭스(WF6063M5, Senju Metal)을 도포하여 용융 솔더에 장입하였다.
  • 4에 나타낸 규격으로 시편을 제작하여 인장시험을 수행하였다. 인장시험에 사용된 장비는 Instron 4481이었으며 시험속도는 10-2s-1(7.8 mm/min)이었다.

이론/모형

  • 젖음성 시험은 JIS(Japanese Industrial Standard) Z 3198-4 규격14)에 따라 젖음성 측정장비인 SP-2(Malcomtech International Inc.)를 사용하여 Fig. 2에 나타낸 것과 같이 wetting balance 테스트를 실시하였다. 시험편은 3×10 mm의 Cu를 사용하였으며, 수용성 플럭스(WF6063M5, Senju Metal)을 도포하여 용융 솔더에 장입하였다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
SAC305 무연솔더에서 Ag는 어떠한 역할을 하는가? SAC305 무연솔더에서 3.0 wt%의 Ag는 공정조성에 가까운 합금을 형성하고 솔더 젖음성을 향상시키는 역할을 한다.5-6) 이러한 Ag 함량의 감소는 접합부에서 Ag3Sn 상의 형성을 감소시켜 기계적 충격 신뢰성을 향상시키는 것으로 알려져 있지만 젖음성과 열싸이클링(thermal cycling) 신뢰성은 저하되는 것으로 보고되고 있다.
Sn-3.0Ag-0.5Cu 조성의 장점과 단점은 무엇인가? 0Ag-0.5Cu 조성(SAC305)은 기존 유연솔더에 비해 34°C 정도 융점이 높지만 젖음성(wettability), 기계적 강도, 접합부 신뢰성 등이 양호하여 현재 무연 전자기기에서 가장 널리 사용되고 있다.1-3)
보드레벨 낙하시험에서 무엇에 발생하는가? 낙하충격에 의해 보드가 급격히 휘어지고, 이에 따라 솔더 접합부에는 순간 인장응력이 가해진다. 이러한 낙하시험에서는 금속 간화합물(intermetallic compound, IMC) 인근의 솔더 영역에서 취성파괴가 주로 발생하는 것으로 보고되고 있다.19-20)
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (27)

  1. Z. W. Zhong, P. Arulvanan, H. P. Maw, C. W. A. Lu, "Characterization of SnAgCu and SnPb Solder Joints on Low-Temperature Co-Fired Ceramic Substrate", Solder. Surf. Mount Technol., 19(4), 18 (2007). 

  2. T. Takemoto, "Recent Progress of Lead-Free in Electronic Packaging", J. Vac. Soc. Jap., 48, 372 (2005). 

  3. T. Takemoto, "Lead-Free Solder and Micro-Joining", Mater. Jap., 35(4), 320 (1996). 

  4. G. Iyer, E. Ouyang, W. Kittidacha, S. Tantideeravit and S. LK, "Pb-free Solder: SAC105 vs SAC305 Drop-Test Reliability Data Comparison", Proc. 32th International Electronics Manufacturing Technology Symposium, San Jose, 251, IEEE/ CPMT (2007). 

  5. I. Ohnuma, M. Miyashita, K. Anzai, X. J. Liu, H. Ohtani, K. Kainuma and K. Ishida, "Phase Equilibria and the Related Properties of Sn-Ag-Cu Based Pb-free Solder Alloys", J. Electron. Mater., 29(30), 1137 (2000). 

  6. J. H. Lee, A. M. Yu, J. H. Kim, M. S. Kim and N. Kang, "Reaction Properties and Interfacial Intermetallics for SnxAg-0.5Cu Solders as a Function of Ag Content", Met. Mater. Int., 14(5), 649 (2008). 

  7. K. W. Moon, W. J. Boettinger, U. R. Kattner, F. S. Biancaniello and C. A. Handwerker, "Experimental and Thermodynamic Assessment of Sn-Ag-Cu Solder Alloys", J. Electron. Mater., 29, 1122 (2000). 

  8. S. Terashima, Y. Kariya, T. Hosoi and M. Tanaka, "Effect of Silver Content on Thermal Fatigue Life of Sn-xAg-0.5Cu Flip-Chip Interconnects", J. Electron, Mater., 32(12), 1527 (2003). 

  9. M. Amagai, Y. Toyota and T. Tajima, "High Solder Joint Reliability with Lead Free Solders", Proc. 53rd Electronic Components and Technology Conference(ECTC), New Orleans, 317, IEEE CPMT (2003). 

  10. A. M. Yu, M. S. Kim, C. Y. Hyun and J. H. Lee, "Wettability Evaluation of Sn-0.3Ag-0.7Cu Solder Alloy with Different Flux Activity and Indium Addition", J. Microelectron. Packag. Soc., 15(4), 51 (2008). 

  11. S. Fenglian, L. Yang, L. Yang and W. Jiabing, "Improving the Solderability and Electromigration Behavior of Low-Ag SnAgCu Soldering", Proc. 12th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems(Euro- SimE), Linz, 1/5, IEEE (2011). 

  12. J. H. Lee, C. W. Lee and J. H. Kim, "Quaternary Pb-free Solder Composition Incorporating Sn-Ag-Cu-In", Korea Patent 100797161(2008). 

  13. N. Sobczak, A. Kudyba, R. Nowak, W. Radziwill and K. Pietrzak, "Factors Affecting Wettability and Bond Strength of Solder Joint Couples", Pure Appl. Chem., 79(10), 1755 (2007). 

  14. JIS Z 3198-4, "Test Methods for Lead-Free Solders - Part 4: Methods for Solderbility Test by a Wetting Balance Method and a Contact Angle Method", JIS Standards, The Japan Welding Engineering Society (2003). 

  15. P. M. Hall, "Forces, Moments, and Displacements during Thermal Chamber Cycling of Leadless Ceramic Chip Carriers Soldered to Printed Boards", IEEE Trans. Components, Hybrids, Manuf. Technol., 7(4), 314 (1984). 

  16. P. M. Hall, "Creep and Stress Relaxation in Solder Joints of Surface Mounted Chip Carriers", IEEE Trans. Components, Hybrids, Manuf. Technol., 12(4), 556 (1987). 

  17. S. Terashima, Y. Kariya, T. Hosoi, and M. Tanaka, "Effect of Silver Content on Thermal Fatigue Life of Sn-xAg-0.5Cu Flip-Chip Interconnects", J. Electron. Mater., 32(12), 1527 (2003). 

  18. JESD22-A104D, "Temperature Cycling", JEDEC Standard, JEDEC Solid State Technology Association (2005). 

  19. E. H. Wong, K. M. Lim, N. Lee and S. Seah, "Drop Impact Test-Mechanics & Physics of Failure", Proc. 4th Electronics Packaging Technology Conference(EPTC), Singapore, 327, IEEE CPMT (2002). 

  20. H. J. Albrecht, A. Juritza, K. Muller, W. H. Muller, Sterthaus, J. Villain and A. Vogliano, "Interface Reactions in Microelectronic Solder Joints and Associated Intermetallic Compounds: An Investigation of Their Mechanical Properties Using Nanoindentation", Proc. 5th Electronics Packaging Technology Conference(EPTC), Singapore, 726, IEEE CPMT (2003). 

  21. JESD22-B111, "Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic Products", JEDEC Standard, JEDEC Solid State Technology Association(2003). 

  22. M. Alajoki, L. Nguyen and J. Kivilahti, "Drop Test Reliability of Wafer Level Chip Scale Packages", Proc. 55th Electronic Components and Technology Conference(ECTC), Orlando, 637, IEEE CPMT (2005). 

  23. H. H. Kim, D. H. Kim, J. B. Kim, H. J. Kim, J. U. Ahn, I. S. Kang, J. K. Lee, H. S. Ahn and S. Kim, "The Effect of UBM and SnAgCu Solder on Drop Impact Reliability of Wafer Level Package", J. Microelectron. Packag. Soc., 17(3), 65 (2010). 

  24. A. Shed, "Accumulated Creep Strain and Energy Density Based Thermal Fatigue Life Prediction Models for SnAgCu Solder Joint", Proc. 54th Electronic Components and Technology Conference(ECTC), Las Vegas, 737, IEEE CPMT (2004). 

  25. J. S. Jeong, Y. S. Lee, K. H. Shin, S. K. Cheong, J. H. Kim and D. Y. Jang, "An Experimental Study on the Failure Characteristics of Sn-xAg-Cu Lead Free Solder", J. Manuf. Eng. Technol., 18(5), 449 (2009). 

  26. C. M. L. Wu, D. Q. Yu, C. M. T. Law and L. Wang, "Properties of Lead-Free Solder Alloys with Rare Earth Element Additions", Mater. Sci. Eng., 44(1), 1 (2004). 

  27. T. M. Kang, D. W. Lee, Y. K. Hwang, Q. H. Chung and B. K. Yoo, "A Study on the Correlation Between Board Level Drop Test Experiment and Simulation", J. Microelectron. Packag. Soc., 18(2), 35 (2011) 

저자의 다른 논문 :

LOADING...
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로