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NTIS 바로가기신뢰성응용연구 = Journal of the applied reliability, v.13 no.3 = no.43, 2013년, pp.191 - 206
Application areas for Lifetime Performance Index(LPI), a kind of process capability index to be frequently used as a means of measuring process performance are illustrated with examples. Statistical properties for maximum likelihood and unbiased estimators of LPI are evaluated and discussed under We...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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공정능력지수는 무엇으로 사용되는가? | 공정의 균질성(uniformity)을 나타내는 공정능력을 간편하게 나타내는 단순한 척도로 공정능력지수가 널리 쓰인다. 본 논문에서는 정규분포를 따르는 경우를 주 대상으로 하는 이런 공정능력지수 중에서 규격하한만 존재하는 비정규 분포를 따르는 수명자료에 활용할 수 있도록 정의된 수명성능지수(LPI)에 대해 다양한 수명분포에 대한 가설검정절차만을 연구주제로 삼고 있는 기존연구와는 달리 이의 실제 활용 가능성을 세 가지 경우에 예시하였다. | |
공정능력은 무엇인가? | 1980년대 중반 이후 생산공정의 품질수준에 대한 가장 간편한 척도로 공정능력지수(Process Capability Index; PCI)가 널리 쓰인다(Kane(1986)). 공정능력이란 공정이 관리상태에 있을 때 얼마나 균일한 제품을 생산하는지를 나타내는 것으로 주로 양쪽 규격한계가 있을 때 품질특성치 분포의 # 를 이용한 # 등이 쓰이며, #가 클수록 품질수준은 높다고 볼 수 있다. PCI의 유용성에 대해 일부 논란이 있지만, Yum and Ki (2010)에 의하면 2000~2009년간 약 530편의 논문과 전문서적이 발간되어 활발하게 연구가 진행되고 있는 주제이다. | |
Tong et al.(2002)이 LPI를 제안하고 UMVUE의 통계적 성질을 조사하였으며, 완전자료일 때 가설검정 절차를 구축한 것을 계기로 누가, 어떤 경우로 후속연구를 수행하였는가? | (Lifetime Performance Index; LPI)를 제안하고 이에 대한 일양최소분산추정(Uniformly Minimum Variance Unbiased Estimator; UMVUE)의 통계적 성질을 조사하였으며, 완전자료(complete sample)일 때 가설검정 절차를 구축하였다. 이를 계기로 지수분포일 경우에 Lee et al.(2009)이, 파레토 분포일 때 Hong et al.(2007)이, 2-모수 지수분포일 경우에 Wuet al.(2007), Lee et al.(2010)과 Lee et al.(2011b)이, 와이블 분포일 때 Lee et al.(2011a), Lee(2011), Hong et al.(2012), Ahmadi et al.(2013a) 등이 LPI에 대한 후속연구를 수행하였다. 특히 본 논문에서 다루는 와이블 수명분포일 경우에 형상모수가 알려져 있을 때 Lee et al. |
Ahmadi, M. V., Doostparast, M., and Ahmadi, J.(2013a), "Estimating the Lifetime Performance Index with Weibull Distribution Based on Progressive First-Failure Censoring Scheme," Journal of Computational and Applied Mathematics, Vol. 239, 93-102.
Ahmadi, M. V., Doostparast, M., and Ahmadi, J.(2013b), "Statistical Inference for the Lifetime Performance Index Based on Generalised Order Statistics from Exponential Distribution," International Journal of Systems Science, to appear.
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Hong, C-W., Lee, W-C., and Wu, J-W.(2012), "Computational Procedure of Performance Assessment of Lifetime Index of Products for the Weibull Distribution with the Progressive First-Failure-Censored Sampling Plan," Journal of Applied Mathematics, Vol. 2012, Article ID 717184, 13 pages.
Jiang, R. and Murthy, D. N. P.(2011), "A Study of Weibull Shape Parameter: Properties and Significance," Reliability Engineering and System Safety, Vol. 96, 1619-1626.
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Tong, L-I., Chen, K. S., and Chen, H. T.(2002), "Statistical Testing for Assessing the Performance of Lifetime Index of Electronic Components with Exponential Distribution", International Journal of Quality & Reliability Management, Vol. 19, 812-824.
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Yum, B-J. and Kim, K-W.(2010), "A Bibliography of the Literature on Process Capability Indices," Quality and Reliability Engineering International, Vol. 27, 251-268.
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