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Generation and Control of 3D Standing Wave Illumination for Wide-Field High-Resolution 3D Microscopic Measurement

International journal of precision engineering and manufacturing, v.14 no.1, 2013년, pp.55 - 60  

Usuki, Shin (Division of Global Research Leaders, Shizuoka University) ,  Kanaka, Hiroyoshi (Graduate School of Engineering, Shizuoka University) ,  Miura, Kenjiro Takai (Graduate School of Science and Technology, Shizuoka University)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Microscopic imaging is convenient, nondestructive, and has a high-throughput performance and compatibility with a number of applications. However, the spatial resolution of conventional light microscopy is limited to wavelength scale and the depth of field is extremely shallow; hence, it is difficul...

주제어

참고문헌 (8)

  1. Int. J. Precis. Eng. Manuf. W. Lyda 13 4 483 2012 10.1007/s12541-012-0063-x Lyda, W., Burla, A., Haist, T., Gronle, M., and Osten, W., “Implementation and Analysis of an Automated Multiscale Measurement Strategy for Wafer Scale Inspection of Micro Electromechanical Systems,” Int. J. Precis. Eng. Manuf., Vol. 13, No. 4, pp. 483-489, 2012. 

  2. Methods in Cell Biology D. A. Agard 30 353 1989 10.1016/S0091-679X(08)60986-3 Agard, D. A., Hiraoka, Y., Shaw, P., and Sedat, J. W., “Fluorescence Microscopy in Three Dimensions,” Methods in Cell Biology, Vol. 30, pp. 353-377, 1989. 

  3. Journal of Microscopy M. G. L. Gustafsson 198 2 82 2000 10.1046/j.1365-2818.2000.00710.x Gustafsson, M. G. L., “Surpassing the Lateral Resolution Limit by a Factor of Two Using Structured Illumination Microscopy,” Journal of Microscopy, Vol. 198, No. 2, pp. 82-87, 2000. 

  4. The International Journal of Advanced Manufacturing Technology S. Usuki 46 9 863 2010 10.1007/s00170-008-1901-y Usuki, S., Nishioka, H., Takahashi, S., and Takamasu, K., “Experimental Verification of Super-resolution Optical Inspection for Semiconductor Defect by Using Standing Wave Illumination Shift,” The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, Vol. 46, No. 9, pp. 863-875, 2010. 

  5. Proceedings of SPIE S. Usuki 7800 78000I 2010 10.1117/12.861966 Usuki, S., Kudo, R., Takahashi, S., and Takamasu, K., “Multiple image reconstruction for high-resolution optical imaging using structured illumination,” Proceedings of SPIE, Vol. 7800, 78000I, 2010. 

  6. Optics Letters M. A. A. Neil 22 24 1905 1997 10.1364/OL.22.001905 Neil, M. A. A., Juskaitis, R., and Wilson, T., “Method of Obtaining Optical Sectioning by Using Structured Light in a Conventional Microscope,” Optics Letters, Vol. 22, No. 24, pp. 1905-1907, 1997. 

  7. Biophysical Journal M. G. L. Gustafsson 94 12 4957 2008 10.1529/biophysj.107.120345 Gustafsson, M. G. L., Shao, L., Carlton, P. M., Wang, C. J. R., Golubovskaya, I. N., Cande, W. Z., Agard, D. A., and Sedat, J. W., “Three-Dimensional Resolution Doubling in Wide-Field Fluorescence Microscopy by Structured Illumination,” Biophysical Journal, Vol. 94, No. 12, pp. 4957-4970, 2008. 

  8. Contemporary Math. M. Kotani 338 271 2003 10.1090/conm/338/06077 Kotani, M. and Sunada, T., “Spectral geometry of crystal lattices,” Contemporary Math., Vol. 338, pp. 271-305, 2003. 

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