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NTIS 바로가기전기학회논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, v.62 no.12, 2013년, pp.1798 - 1802
이상화 (Division of Physical Metrology, Center for Electricity and Magnetism, Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS)) , 장석명 (Dept. of Electrical Engineering, Chungnam national University)
We present a technique for measuring low resistance ranges of a decade resistor with a 4-Terminal connection. With the technique the accuracy of 0.8 % was obtained for a 1
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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계단식 저항기의 낮은 저항을 사용할 경우 취해야 할 조치는 무엇인가? | 그런데, 대부분의 계단식 저항기는 2단자로 구성되어 있는 반면 낮은 저항 범위의 저항 측정기들은 입력단자가 4단자로 구성되어 있다. 실제로 낮은 저항을 측정할 때는 4 단자로 측정하여야 하므로 계단식 저항기의 낮은 저항을 사용할 경우는 2단자 측정방법 대신에 4단자 측정방법[3][4]으로 바꾸어야 한다. 대학과 산업체에서는 그런 측정기술을 잘 활용하지 못하고 있으며, 실제 측정을 할 경우 많은 오차를 가진 결과를 얻게 된다. | |
계단식 저항기(decade resistor)의 특징은 무엇인가? | 계단식 저항기(decade resistor)는 1 mΩ ∼ 10 TΩ의 낮은 저항과 높은 저항을 포함하는 넓은 저항 범위를 가지고 있으며, 전기계측과 전기적 특성 측정을 위하여 간단하고도 신속하게 사용 할 수 있는 특징과 장점을 가지고 있는 저항기이다. 그런 특징을 활용하여 이공계 대학과 산업체에서 여러 용도로 많이 사용하고 있다. | |
계단식 저항기(decade resistor)는 이공계대학이나 산업체에서 어떻게 사용되고 있는가? | 그런 특징을 활용하여 이공계 대학과 산업체에서 여러 용도로 많이 사용하고 있다. 즉, 전류를 측정하거나 제한할 경우, 각종 실험, 연구 또는 생산공정에 있어서의 시험 설비로서 사용할 경우, 절연저항계와 접지저항계를 정확히 시험 측정할 경우, 휘스톤 브리지를 포함한 각종 정밀측정 브리지[1][2]에 내장하여 저항을 정밀하게 측정할 경우 등에서 사용하고 있다. 그런데, 대부분의 계단식 저항기는 2단자로 구성되어 있는 반면 낮은 저항 범위의 저항 측정기들은 입력단자가 4단자로 구성되어 있다. |
L.C.A. Henderson, "A new technique for the automatic measurement of high value resistors," J. Phys. E. Sci. Instrum. 20 (1987) 492-.495
Forest K. Harris, "Electrical Measurements", Robert E. Krieger Publishing Company, 1975.
Fluke, "Calibration: Philosophy in Practice" Second Edition, 1994.
KEITHLEY, "6th Edition, Low Level Measurements Handbook", 2006.
Jack C. Riley, "The Accuracy of Series and Parallel Connections of Four-Terminal Resistors," IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. IM-16, No. 3, pp. 258-268, 1968
G. Rietveld, C. V. Koijmans, L. C. A. Henderson, M. J. Hall, S. Harmon, P. Warnecke, and B. Schumacher, ""DC conductivity measurements in the van der Pauw geometry," IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 52, no. 2, pp. 449--453, Apr. 2003
Ernest Houtzager and Gert Rietveld, "Automated Low-Ohmic Resistance Measurements at the ${\mu}{\Omega}/{\Omega}$ Level," IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 56, no. 2, pp. 406-409, Apr. 2003
ISO/IEC GUIDE 98-3:2008, Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995).
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