최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기한국항공우주학회지 = Journal of the Korean Society for Aeronautical & Space Sciences, v.42 no.11, 2014년, pp.981 - 987
노영환 (Dep't of Railroad Electricity System, Woosong University)
DC/DC switching power converters are commonly used to generate a regulated DC output voltage with high efficiency. The DC/DC converter is composed of a MOSFET (metal-oxide semiconductor field effect transistor), a PWM-IC (pulse width modulation-integrated circuit) controller, inductor, capacitor, et...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
MOSFET은 어떻게 구성되어 있는가? | MOSFET[7]는 N형과 또는 P형의 반도체 벌크에 드레인, 소스라 불리는 벌크와 반대되는 반도체 형의 확산영역을 만들고, 그들 사이에 SiO2 절연층으로 분리된 게이트 전극이 놓인 구조로 이루어져 있다. MOSFET의 게이트는 매우 작고 뛰어난 특성을 갖는 커패시터이며, 채널을 통한 전도는 게이트와 소스 사이에 인가된 전압에 의하여 제어된다. | |
방사선의 형태는 어떻게 나누어 볼 수 있는가? | 이러한 영향은 방사선의 조사량 (dose)와 조사율 (dose rate)에 따라 그 영향이 축적되다가 결국 전자부품을 파손시킨다. 방사선의 형태는 일반적으로 소립자 방사선 (particle radiation)과 광자 방사선 (photon radiation)으로 나누어진다. 소립자 방사선은 하전입자와 중성자입자로 나누어지는데 하전입자는 전자, 양자, 알파, 이온입자들이며, 중성자입자는 중성자로 구성된다. | |
농축 이온 같은 입자들은 전자회로에 어떤 영향을 미치는가? | SEE는 우주공간에서 농축 이온이나 강력한 양성자와 중성자의 영향에 의해 발생되어 위성체의 전자회로에 민감한 부분에서 발생된다. 이와 같은 입자들은 회로에 일시적인 지장을 주거나 치명적인 손상을 야기 시킬 수 있는 회로에 이온에너지를 축적시킨다. |
P. C. Adell et Al, "Total-Dose and Single-Event Effects in DC/DC Converter Control Circuitry," IEEE Transactions Nuclear Science, Vol. 50, No. 6, December, 2003
S. H. Lee, J. Y. Jung, "Power Electronics Engineering," Seoul, Hyung Seol Publications Inc. pp. 147-153, 2006
E. C. Roh, K. B. Jung, N. S. Choi, "Power Electronics," Moon Woon Dang, pp. 190-218, 1997 (in Korean)
Radiation Effects Research Program at IUCF Newsletter, March 2003
Rene Donaldson and M. G. D. Gilchrisese, Proceedings of the Workshop on Calorimetry for the Supercollider, pp.575, University of Alabama, Tuscaloosa, Alabama, 1989
Data sheet of IRF3315S/L, International Rectifier
Adel S. Sedra, Kenneth C. Smith, "Microelectronics Circuits,"SAUNDERS COLLEGE PUBLISHING pp. 320-326, 2002 (in Korean)
N. W. Van Vonno, L. G. Pearce, GM Wood et. al, "Total Dose and Single Event Testing of a Hardened Single-Ended Current Mode PWM Controller," NSREC, July, 2010
A Technical Report, "Development of Evaluation Technology of SEL Effects on Electronic Component for SPACE," National Research Foundation of Korea (2011) (in Korean)
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.